[发明专利]电容检测电路、触控装置及终端设备

说明书

本申请实施例提供一种电容检测电路、触控装置及终端设备。电容检测电路包括：充电电路，用于对所述待测电容充电，使所述待测电容的极板两端的电压差值为第一预设电压值；放电电路，用于使充电后的所述待测电容释放第一电荷量的电荷，其中，所述第一电荷量小于所述第一预设电压值对应的电荷量；信号检测电路，用于检测通过所述放电电路放电后的所述待测电容上的电压值与第二预设电压值之间的电压差值，以根据所述电压差值确定所述待测电容的电容值变化量。该电容检测电路能够在自电容较大时进行电容检测。

技术领域

本申请实施例涉及检测技术领域，尤其涉及一种电容检测电路、触控装置及终端设备。

背景技术

近年来，随着智能移动终端的普及，对电容式触摸屏的性能需求越来越高，相应地，对电容式触摸屏的检测要求，尤其是对电容式触摸屏的自电容检测的要求也越来越高。

现有技术中，对自电容的架构性能较差。而随着电容式触控屏的发展，电容传感器(sensor)的自电容越来越大，从最开始50pF以内，慢慢增加到100pF、到现在主流200pF以及最新的电容传感器的自电容已经高达500pF。随着电容传感器的升高，电容传感器被触摸(touch)时产生的自电容反而极大地减小。如，自电容为50pF的电容传感器在被触摸时产生的自电容为1pF，而自电容为500pF的电容传感器在被触摸时产生的自电容为0.2pF。这使得自电容较大的电容传感器在被触摸时产生的电容变化信号极小，不能被现有的自电容架构所检测到。

现有自电容架构仅能较好地支持对50pF的自电容的检测，最大勉强能够支持200pF左右自电容的检测，对于具有500pF的自电容的电容传感器，由于检测精度限制，现有的检测电路无法进行支持。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例所解决的技术问题之一在于提供一种电容检测电路、触控装置及终端设备，用以克服现有技术中自电容较大时不能进行电容检测的问题。

本申请实施例提供一种电容检测电路，其包括：充电电路，用于对待测电容充电，使待测电容的极板两端的电压差值为第一预设电压值；放电电路，用于使充电后的待测电容释放第一电荷量的电荷，其中，第一电荷量小于第一预设电压值对应的电荷量；信号检测电路，用于检测通过放电电路放电后的待测电容上的电压值与第二预设电压值之间的电压差值，以根据电压差值确定待测电容的电容值变化量。

可选地，第一电荷量根据第一预设电压值、第二预设电压值和待测电容的初始电容值确定，第一预设电压值大于第二预设电压值。

可选地，第一电荷量根据第一预设电压值与第二预设电压值的差和初始电容值的乘积确定。

可选地，充电电路包括第一开关，放电电路包括第二开关，信号检测电路包括第三开关，充电电路对待测电容充电时，第一开关闭合，第二开关和第三开关断开；放电电路使待测电容放电时，第二开关闭合，第一开关和第三开关断开；信号检测电路检测待测电容上的电压值与第二预设电压值之间的电压差值时，第三开关闭合，第一开关和第二开关断开。

可选地，当第三开关闭合时，若待测电容的当前采样电容值等于设定电容值，则待测电容放电后，对应的电压值与第二预设电压值相等；当第三开关闭合时，若待测电容的当前采样电容值大于或小于设定电容值，则待测电容放电后，对应的电压值与第二预设电压值不相等。

可选地，设定电容值等于待测电容的初始电容值。

可选地，放电电路还包括放电电阻，放电电阻的第一端与第二开关连接，放电电路的第二端接地；当第二开关闭合时，待测电容通过放电电阻对地放电。

本申请实施例还一种触控装置，其包括电容传感器及上述的电容检测电路；电容检测电路与电容传感器电连接，并对电容传感器进行电容检测，输出指示电容检测结果的电压差值，电容检测结果的电压差值用于确定作用于电容传感器上的触控信息。

可选地，触控装置还包括开关矩阵，电容传感器通过开关矩阵与电容检测电路连接。