[实用新型]芯片调试设备

说明书

本实用新型实施例提供了一种芯片调试设备，包括：接口转换芯片；调试器连接接口，连接所述接口转换芯片，适于连接调试器；第一调试接口，连接所述接口转换芯片，且通过所述接口转换芯片与所述调试器连接接口连通，适于连接第一被调试接口；第二调试接口，异于所述第一调试接口，连接所述接口转换芯片，且通过所述接口转换芯片与所述调试器连接接口连通，适于连接第二被调试接口。本实用新型实施例所提供的芯片调试设备能够实现多种接口的调试，提高了使用的便捷性。

技术领域

本实用新型实施例涉及调试技术领域，具体涉及一种芯片调试设备。

背景技术

为了保证芯片的可靠性，在芯片的生产过程中以及使用过程中出现问题后，都需要进行系统调试，以保证产品的性能。

不同的芯片基于功能的不同有不同的接口，并经常由不同的调试人员调试，为了实现对不同的芯片的调试，就需要配备具备不同接口的芯片调试设备，而产品的调试有时是在实验室完成，有时是在产品的使用地再次进行调试，为此需要准备各种调试工具，造成了工作的不方便。

因此，如何提高调试工作的便捷性，成为了本领域技术人员亟需解决的问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例提供一种芯片调试设备，能够实现多种接口的调试，提高了使用的便捷性。

为实现上述目的，本实用新型实施例提供如下技术方案：

为解决上述问题，本实用新型实施例提供一种芯片调试设备，包括：

接口转换芯片；

调试器连接接口，连接所述接口转换芯片，适于连接调试器；

第一调试接口，连接所述接口转换芯片，且通过所述接口转换芯片与所述调试器连接接口连通，适于连接第一被调试接口；

第二调试接口，异于所述第一调试接口，连接所述接口转换芯片，且通过所述接口转换芯片与所述调试器连接接口连通，适于连接第二被调试接口。

可选地，还包括：

第三调试接口，异于所述第一调试接口和所述第二调试接口，连接所述接口转换芯片，且通过所述接口转换芯片与所述调试器连接接口连通，适于连接第三被调试接口。

可选地，还包括：

第四调试接口，异于所述第一调试接口、所述第二调试接口和所述第三调试接口，连接所述接口转换芯片，且通过所述接口转换芯片与所述调试器连接接口连通，适于连接第四被调试接口。

可选地，所述调试器连接接口为USB AB型接口。

可选地，所述第一调试接口为JTAG调试接口。

可选地，还包括JTAG调试接口电平转换芯片，连接于所述JTAG调试接口和所述接口转换芯片之间，所述JTAG调试接口通过所述JTAG调试接口电平转换芯片与所述接口转换芯片连接。

可选地，所述第二调试接口为RS232调试接口，所述芯片调试设备还包括：

RS232调试接口电平转换芯片，所述RS232调试接口通过所述RS232调试接口电平转换芯片与所述接口转换芯片连接。

可选地，所述第三调试接口为UART调试接口。

可选地，所述第四调试接口为SPI调试接口。

可选地，还包括：

I2C调试接口，连接所述接口转换芯片，且通过所述接口转换芯片与所述调试器连接接口连通，适于连接I2C被调试接口。