[实用新型]一种触摸屏光学检测系统

说明书

本实用新型涉及一种触摸屏光学检测系统，包括照明装置和成像装置，成像装置包括第一成像装置和第二成像装置；所述光源发出的光经准直镜组准直后，被第一反射镜通过光路连接通道反射入成像装置；第一分光镜将入射的光反射至待测样品，经待测样品散射的光通过第一分光镜入射至第一镜组，然后光经第二分光镜透射至第二镜组，以及反射至第二反射镜，第二镜组汇聚的光进入第一工业相机成像；第二反射镜将光线反射至第三镜组，第三镜组汇聚的光进入第二工业相机成像。本实用新型可对触控IC的Sensor层和Driver层分别成像，提高了测试精度和生产效率，增加了通用性。

技术领域

本实用新型涉及一种触摸屏检测系统，尤其涉及一种触摸屏光学检测系统。

背景技术

优良的触控体验使得触摸屏深入消费级电子产品领域，成为重要的人机交互手段。常规的触控屏包括玻璃盖板、OCA粘接层和触控IC，触控IC包括Sensor层、透明树脂和Driver层。在实际的生产制作过程中，因为上层玻璃盖板的接触和下部元件的挤压，触控IC经常会折断、严重变形从而降低触摸屏的感应效果。因此，触控类产品在大规模量产时都需要对触控IC的Sensor和Driver两层电路进行检测分析，防止出现断线等不良。

近来，无接触、判断精度高、客观化的机器视觉测量方式越来越受到生产厂商的青睐，主要的机器视觉测量系统有两种，一种是将光源发出的光经光路调节照射到待测样品，经散射后的光最终被成像物镜收集进入工业相机成像分析。此系统在实际测试时，因为需要分析触控IC的上下两个表面的sensor和driver两层电路线的缺陷，需要调整调节旋钮分别对待测触控IC的两个面成像，调节过程需要反复旋转才能得到相应较清晰的像，导致误差大，生产效率较低。另一种是利用环形的LED光源发出的多角度光线经待测样品反射，被物镜收集处理后进入工业相机。该方案需要采用大景深的成像镜头才能同时拍摄清楚触控IC的Sensor和Driver两层，拍摄的图片因为景深的缘故会将周围的杂质、气泡等拍摄入图片，往往造成算法分析的过检，使得生产成本增加。上下两层Sensor和Driver层相对的深度不同，镜头实际收集的光线强度也会不同，增大了算法处理的难度；触摸屏尺寸的差异，使得该光学检测系统的通用性降低。因此，急需一种测试精度高、算法简单、生产效率高、通用性强的触摸屏光学检测系统。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种测试精度和生产效率高及通用性强的触摸屏光学检测系统。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：包括照明装置和成像装置，所述照明装置包括光源、准直镜组和第一反射镜；所述成像装置包括第一成像装置、第二光路连接装置和第二成像装置，第一成像装置包括第一分光镜、第一镜组、第二分光镜、第二镜组和第一工业相机，第二成像装置包括第二反射镜、第三镜组和第二工业相机。

照明装置和成像装置之间设有第一光路连接通道，所述光源发出的光经准直镜组准直后，被第一反射镜通过第一光路连接通道反射入成像装置。

所述第一分光镜将经第一光路连接通道入射的光反射至待测样品，经待测样品散射的光通过第一分光镜入射至第一镜组，对光路整形的第一镜组设于第一分光镜和第二分光镜之间，光经第二分光镜透射至第二镜组，以及反射至第二反射镜，第二镜组汇聚的光最终进入设于第一成像装置端部的第一工业相机成像。

所述第二光路连接通道连通第一成像装置和第二成像装置，第二分光镜和第二反射镜设于第二光路连接通道两侧，使经第二分光镜反射的光通过第二光路连接通道入射至第二反射镜；第二反射镜将光线反射至第三镜组，第三镜组汇聚的光最终进入设于第二成像装置端部的第二工业相机成像。

作为优选的技术方案，所述光源是同轴光源。

作为优选的技术方案，所述反射镜是棱镜。

作为优选的技术方案，所述待测样品是触控屏，触控屏包括玻璃盖板、OCA粘接层和触控IC，所述触控IC包括Sensor层、透明树脂和Driver层。