[实用新型]一种远红外探测器芯片测试的自动对焦控制系统

权利要求书

1.一种远红外探测器芯片测试的自动对焦控制系统，其特征在于，它包括黑体运动系统、光栏转动系统、控制器、人机界面和传感器(6)，所述黑体运动系统与光栏转动系统连接，所述控制器的输入端与人机界面的输出端连接，所述黑体运动系统和光栏转动系统的输入端均与控制器的输出端连接，所述传感器(6)的输入端与黑体运动系统连接，用于检测黑体的当前位置信息，所述传感器(6)的输出端与控制器的输入端连接。

2.根据权利要求1所述的一种远红外探测器芯片测试的自动对焦控制系统，其特征在于，所述黑体运动系统包括低温黑体(1)、高温黑体(2)、黑体安装架(3)、伺服电机(4)、伺服电机驱动器和丝杠滑台(5)，所述低温黑体(1)和高温黑体(2)固定在黑体安装架(3)上，所述黑体安装架(3)固定在丝杠滑台(5)的螺母座上，所述伺服电机(4)位于丝杠滑台(5)的一端且伺服电机(4)的执行端与丝杠滑台(5)连接，所述伺服电机(4)的控制端通过伺服电机驱动器与控制器的输出端连接；所述传感器(6)固定在丝杠滑台(5)上，用于检测低温黑体(1)和高温黑体(2)当前的位置信息；所述光栏转动系统包括光栏(7)、光栏安装架(8)、转角气缸(9)、底座(10)、芯片安装座(11)、远红外探测器芯片(12)和台面(13)；所述光栏(7)安装在光栏安装架(8)上，光栏安装架(8)固定在转角气缸(9)的旋转轴上，所述转角气缸(9)固定在底座(10)的侧壁上，所述转角气缸(9)的输入端与控制器的输出端连接，所述芯片安装座(11)安装在底座(10)上表面，所述远红外探测器芯片(12)安装在芯片安装座(11)上，所述丝杠滑台(5)和底座(10)均固定在台面(13)上。

3.根据权利要求2所述的一种远红外探测器芯片测试的自动对焦控制系统，其特征在于，所述低温黑体(1)和高温黑体(2)与黑体安装架(3)在垂直方向上的连接孔为椭圆形长孔，用于调节低温黑体(1)和高温黑体(2)在垂直方向上的移动。

4.根据权利要求2所述的一种远红外探测器芯片测试的自动对焦控制系统，其特征在于，所述光栏(7)距离远红外探测器芯片(12)的距离等于光栏(7)的直径。

5.根据权利要求2所述的一种远红外探测器芯片测试的自动对焦控制系统，其特征在于，所述伺服电机驱动器的型号为6SL3210。

6.根据权利要求2所述的一种远红外探测器芯片测试的自动对焦控制系统，其特征在于，所述伺服电机(4)的型号为1FL6032。

7.根据权利要求1所述的一种远红外探测器芯片测试的自动对焦控制系统，其特征在于，所述人机界面为触摸屏，所述触摸屏的型号为西门子KTP700。

8.根据权利要求1所述的一种远红外探测器芯片测试的自动对焦控制系统，其特征在于，所述控制器的型号为西门子S7-1200。