[实用新型]一种箔材宽度测量装置有效
申请号: | 201822250063.9 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN209085547U | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 张明阳;张恒;闫秋云 | 申请(专利权)人: | 郑州市明锐电子科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 郑州浩翔专利代理事务所(特殊普通合伙) 41149 | 代理人: | 靳锦 |
地址: | 450000 河南省郑州市郑州高*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 箔材 放置板 齿轮 光槽 宽度测量装置 本实用新型 激光测径仪 激光发射器 激光接收器 压平机构 转动电机 固定板 导辊 啮合 光路穿过 输出轴 投射 测量 | ||
本实用新型公开了一种箔材宽度测量装置,包括机架、激光测径仪和压平机构,在机架上设有箔材放置板,在箔材放置板上开设有过光槽;激光测径仪包括设置在箔材放置板上方的激光发射器和设置在箔材放置板下方的激光接收器,激光发射器的光路穿过过光槽投射在激光接收器上;压平机构包括固定板、设置在固定板上的转动电机,以及分别位于过光槽上方两侧的导辊,两个导辊分别连接有齿轮,两个齿轮相啮合,转动电机的输出轴与其中一个齿轮对应连接。本实用新型可以实现箔材的快速、精确测量,操作更加方便,适用范围更为广泛。
技术领域
本实用新型涉及激光测量装置技术领域,具体涉及一种箔材宽度测量装置。
背景技术
箔材是极薄的金属片或带材,大多数金属以及它们的合金都能制成箔材,如金、银、铜、铁、锡、锌、铅、镍、铝、钨、钼、钽、铌、钛以及钢和不锈钢、镍基和钴基合金等,其中用量最大的是铝箔。在箔材的应用过程中,需要测量箔材的宽度、厚度等指标,通常的测量方法是采用非接触式测量,用到的测量仪器如激光测距仪或激光测径仪,测量原理是:测量装置包括光线发出装置和光线接受装置,通过被测零件物理遮挡和先后的光源情况,判定被测零部件的尺寸,该测量方式可以实现高精度的测量,现阶段的非接触式测量仪的测量范围多集中在零部件厚度,外形尺寸、外径和内径等线性尺寸。但是由于箔材质量轻、厚度小、易卷片、易损坏的特性,难以实现快速高精度测量。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种箔材宽度测量装置,能够实现箔材的快速、高精度测量。
为解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:
设计一箔材宽度测量装置,包括机架、激光测径仪和压平机构,
在所述机架上设有箔材放置板,在所述箔材放置板上开设有过光槽;所述激光测径仪包括设置在所述箔材放置板上方的激光发射器和设置在所述箔材放置板下方的激光接收器,所述激光发射器的光路穿过所述过光槽投射在所述激光接收器上;
所述压平机构包括固定板、设置在所述固定板上的转动电机,以及分别位于所述过光槽上方两侧的导辊,所述两个导辊分别连接有齿轮,所述两个齿轮相啮合,所述转动电机的输出轴与其中一个齿轮对应连接。
优选的,所述两个导辊的转动方向相反,分别朝向所述过光槽的外侧转动。
在上述技术方案中,采用激光测径仪测量箔材的宽度,激光发射器发出的激光形成光路,光路穿过过光槽被下部的激光接收器接收,待测的箔材放置在过光槽上,因此光路被遮挡的部分即为箔材的宽度。采用压平机构实现对箔材的铺平,避免因箔材卷边、不平造成测量误差,压平机构中的导辊在转动电机的控制下分别朝向过光槽的两侧向外旋转,通过导辊产生的滚动作用使箔材铺平在过光槽上,保证测量部位的平整,使得测量结果更加精准。可以在外部设置支架来安装固定板,实现压平机构与测量装置的配合使用,固定板可以沿支架在一定范围内上下移动,以适应不同厚度的箔材测量。
优选的,所述导辊为包胶辊,可以增大导辊的摩擦力,能够更好地铺平待测箔材。
优选的,所述压平机构的结构替换为:包括设置在所述箔材放置板上方的透光板,在所述透光板的左右两侧边下部分别通过合页铰接有压辊,在所述透光板的后侧机架上设有滑轨,所述透光板通过滑块滑动安装在所述滑轨上。压平机构的另一种结构中,透光板上下移动,可以使压辊对待测箔材产生向下的压力,两侧的压辊与透光板之间通过合页交接,在透光板下压时,压辊分别向两侧滑动,产生向两侧的推力,使箔材更加平整地平铺在箔材放置板,尤其适用于容易卷边的箔材,测量结果更加精确。
优选的,在所述合页的主轴上安装有扭簧,能够起到弹力复位的作用。
优选的,在所述透光板上开设有与所述过光槽上下重合且形状、大小相同的透光槽,使得从激光发射器发出的光路能够直接穿过透光槽和过光槽到达激光接收器。
优选的,所述压辊为包胶辊。
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