[实用新型]一种可微调涨缩的复合测试治具有效
申请号: | 201822234964.9 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN209400581U | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 黄铭宏;李英魁;林世昌;瞿浩;王勇;王博 | 申请(专利权)人: | 定颖电子(黄石)有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人: | 陈建军 |
地址: | 435000 湖北省黄石*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 调节螺杆 复合测试 可微调 治具 放置板 主体架 电测 转动连接 本实用新型 外表面螺纹 紧固螺杆 闭合盖 偏移量 移动块 转动轴 偏移 检测 测针 拆卸 微调 穿过 | ||
本实用新型公开了一种可微调涨缩的复合测试治具,包括主体架,所述主体架的右端通过转动轴与闭合盖转动连接,主体架的前侧固定连接有第一放置板,第一放置板上设有凹槽,凹槽内转动连接有第二调节螺杆,第二调节螺杆的右端穿过第一放置板与调节轮连接,第二调节螺杆的外表面螺纹连接有第二移动块,该可微调涨缩的复合测试治具,工作人员根据PCB的涨缩偏移量通过第一调节螺杆和第二调节螺杆对测针的位置进行微调,避免在电测过程中因为PCB的涨缩偏移影响后期检测,无需拆卸面板,节省人力,提高电测效率,通过紧固螺杆对可微调涨缩的复合测试治具进行固定,避免在检测过程中可微调涨缩的复合测试治具发生位移,影响电测结果。
技术领域
本实用新型涉及电测治具技术领域,具体为一种可微调涨缩的复合测试治具。
背景技术
PCB在生产过程中,难免因外在因素而造成短路、断路及漏电等电性上的瑕疵,再加上PCB不断朝高密度、细间距及多层次的演进,若未能及时将不良板筛选出来,而任其流入制程中,势必会造成更多的成本浪费,因此除了制程控制的改善外,提高测试的技术也是可以为PCB制造者提供降低报废率及提升产品良率的解决方案,模具的测量速度快,量产通常使用模具测量,但由于PCB存在尺寸涨缩,测针和测试点位置很容易出现偏差,每次需要测量涨缩偏移量,更换治具面板,手动塞纸进行对位,工作量大,严重影响电测效率。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷,提供一种可微调涨缩的复合测试治具,工作人员根据PCB的涨缩偏移量对测针进行微调,方便工作人员对PCB进行检测,可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种可微调涨缩的复合测试治具,包括主体架,所述主体架的右端通过转动轴与闭合盖转动连接,主体架的前侧固定连接有第一放置板,第一放置板上设有凹槽,凹槽内转动连接有第二调节螺杆,第二调节螺杆的右端穿过第一放置板与调节轮连接,第二调节螺杆的外表面螺纹连接有第二移动块,第二移动块位于凹槽内且滑动连接,第二移动块的上表面固定连接有第二放置板,第二放置板上设有放置槽,第二放置板的左侧设有连接槽,连接槽的位置与放置槽的位置相对应且连通,所述放置槽内转动连接有第一调节螺杆,第一调节螺杆的后端穿过第二放置板与调节把手连接,所述第一调节螺杆的外表面螺纹连接有第一移动块,第一移动块位于放置槽且滑动连接,第一移动块的下表面固定连接有伸缩杆和弹簧,伸缩杆的位置与弹簧的位置相对应且套接,伸缩杆和弹簧的伸缩端与测试板固定连接,测试板位于主体架内,所述第一移动块的左侧固定连接有定位板,定位板位于连接槽内且滑动连接,定位板的上表面固定连接有转动架,转动架内通过活动轴与移动杆转动连接,所述定位板上设有滑动槽,滑动槽位于转动架的右侧,滑动槽内滑动连接有推动杆,推动杆的顶端与移动杆接触连接,推动杆的底端固定连接有垫片,垫片的下表面与测试板接触连接,测试板的下表面等距设有测针。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述主体架的前后两侧分别设有螺纹槽,螺纹槽内螺纹连接有紧固螺杆,紧固螺杆的一端与橡胶垫连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述闭合盖上设有观察槽,观察槽内设有透明玻璃。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述闭合盖的上表面固定连接有握把,握把上套接有橡胶防滑套。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述移动杆上套接有海绵套,海绵套上设有防滑纹。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该可微调涨缩的复合测试治具,工作人员根据PCB的涨缩偏移量通过第一调节螺杆和第二调节螺杆对测针的位置进行微调,避免在电测过程中因为PCB的涨缩偏移影响后期检测,无需拆卸面板,节省人力,提高电测效率,通过紧固螺杆对可微调涨缩的复合测试治具进行固定,避免在检测过程中可微调涨缩的复合测试治具发生位移,影响电测结果。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
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