[实用新型]干涉仪检具

说明书

本实用新型涉及一种干涉仪检具，包括圆台，圆台下中部设置定位插柱，圆台上中部设置立柱，圆台外周设置有限位槽，避免检具使用过程中转动，圆台、定位插柱、立柱同轴心，且直径依次递减，立柱上端设置镜片放置面，为便于镜片检测时的拿取，提高检查效率，镜片放置面的左右两侧铣扁形成避让台阶面，避让台阶面位于定位面下方，定位面前面设置有定位块，定位块内侧设置中部向外拱形成V型定位面，V型定位面包括左右对称设置的两个内端相连接的斜面，两个斜面外端的直线距离小于其所检测的镜片的外径，立柱直径大于所检测的镜片的外径，本检具结构简单，设计合理，操作使用方便，通用性强，提高了检查效率，降低了生产成本。

技术领域

本实用新型涉及一种用于球面镜片检测的干涉仪检具。

背景技术

球面镜片亚斯/局部面精度是光学成像的重要指标，在镜片研磨完成后需使用干涉仪进行抽检，当不良比例超标时需对整批次产品进行全检确认，在干涉仪上检测时，需使用干涉仪检具进行定位。传统干涉仪检具采用圆周定位，即治具内孔稍大于镜片外径（通常为0.1-0.2mm）。这样的检具通用性差，镜片外径差异大于0.5mm时，定位效果差，易平移，亚斯成像位置偏移，同时，生产加工时，需针对不同型号镜片需更换不同型号检具，更换频率高，影响检查效率，检具数量多，也会造成生产管理的浪费和治工具成本的提高。

发明内容

本实用新型的目的是针对以上不足之处，提供了一种干涉仪检具。

本实用新型解决技术问题所采用的方案是，一种干涉仪检具，包括圆台，圆台下中部设置定位插柱，圆台上中部设置立柱，圆台外周设置有限位槽，圆台、定位插柱、立柱同轴心，且直径依次递减，立柱上端设置镜片放置面，镜片放置面的左右两侧铣扁形成避让台阶面，避让台阶面位于定位面下方，定位面前面设置有定位块，定位块内侧设置中部向外拱形成V型定位面。

进一步的，V型定位面包括左右对称设置的两个内端相连接的斜面，两个斜面之间的夹角为120度。

进一步的，两个斜面外端的直线距离小于其所检测的镜片的外径，立柱直径大于所检测的镜片的外径。

进一步的，两个斜面的连接端设置过渡圆角。

进一步的，限位槽位于立柱后侧。

进一步的，定位面上设置有保护层。

进一步的，保护层为黑毛纸。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：结构简单，设计合理，操作使用方便，通用性强，提高了检查效率，降低了生产成本。

附图说明

下面结合附图对本实用新型专利进一步说明。

图1为本检具的结构示意图一；

图2为本检具的结构示意图二。

图中：1-圆台、2-定位插柱、3-立柱、4-镜片放置面、5-定位块、6-避让台阶面、7-保护层、8-限位槽、9-V型定位面。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。

如图1-2所示，一种干涉仪检具，包括圆台，圆台下中部设置定位插柱，圆台上中部设置立柱，圆台外周设置有限位槽，避免检具使用过程中转动，圆台、定位插柱、立柱同轴心，且直径依次递减，立柱上端设置镜片放置面，为便于镜片检测时的拿取，提高检查效率，镜片放置面的左右两侧铣扁形成避让台阶面，避让台阶面位于定位面下方，定位面前面设置有定位块，定位块内侧设置中部向外拱形成V型定位面。

在本实施例中，V型定位面包括左右对称设置的两个内端相连接的斜面，两个斜面之间的夹角为120度。