[实用新型]一种测距装置有效

专利信息
申请号: 201822219845.6 申请日: 2018-12-27
公开(公告)号: CN209197629U 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 张宇 申请(专利权)人: 张宇
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01S17/08
代理公司: 北京八月瓜知识产权代理有限公司 11543 代理人: 马东瑞
地址: 100041 北京市丰台区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辅助支架 踏板 测距仪 本实用新型 激光测距仪 测距装置 测距 激光反射面 垂直设置 反射挡板 激光反射 受力支点 挡板 反射 激光 支撑
【权利要求书】:

1.一种测距装置,包括测距仪,其特征在于,还包括:辅助支架;所述测距仪安装在所述辅助支架上,所述辅助支架底部安装有用于支撑所述辅助支架的踏板,所述踏板和所述辅助支架垂直设置,在所述辅助支架上还安装有用于对激光进行反射的激光反射挡板。

2.根据权利要求1所述的测距装置,其特征在于,所述辅助支架上安装有用于带动所述测距仪在竖直平面上旋转的竖向旋转结构,所述竖向旋转结构上安装有测距仪托架,所述测距仪安装在所述测距仪托架上。

3.根据权利要求2所述的测距装置,其特征在于,所述竖向旋转结构包括旋转紧固螺杆,所述旋转紧固螺杆与所述辅助支架的轴线方向垂直连接,所述测距仪托架安装在所述旋转紧固螺杆上,所述旋转紧固螺杆一端伸入所述测距仪托架内,所述激光反射挡板安装在所述旋转紧固螺杆上。

4.根据权利要求2所述的测距装置,其特征在于,在所述竖向旋转结构上设有标记点,在所述辅助支架上设有第一量角刻度盘,所述竖向旋转结构和所述第一量角刻度盘同轴设置。

5.根据权利要求2所述的测距装置,其特征在于,所述辅助支架上安装有用于带动所述测距仪在水平面上旋转的水平旋转结构,所述竖向旋转结构安装在所述水平旋转结构上。

6.根据权利要求5所述的测距装置,其特征在于,所述辅助支架包括底部的套筒和套接在所述套筒内的顶部的短杆,所述短杆和所述套筒转动连接,所述竖向旋转结构安装在所述短杆上,所述短杆和所述套筒形成所述水平旋转结构。

7.根据权利要求6所述的测距装置,其特征在于,在所述套筒内壁上设有与所述套筒轴线垂直的环形卡环,所述短杆上设有与所述短杆的轴线垂直的圆盘,所述圆盘卡设在所述卡环内;或,所述短杆和所述套筒螺纹连接。

8.根据权利要求6或7所述的测距装置,其特征在于,在所述短杆上设有标记点,在所述套筒上设有第二量角刻度盘,所述短杆和所述第二量角刻度盘同轴设置。

9.根据权利要求1所述的测距装置,其特征在于,所述测距仪包括单向激光测距仪和钢卷尺;

所述钢卷尺安装在单向激光测距仪的底部,钢卷尺与单向激光测距仪的激光发射方向在同一直线上,钢卷尺的拉伸方向与激光发射方向反向。

10.根据权利要求9所述的测距装置,其特征在于,所述钢卷尺背面印有圆周尺测量刻度。

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