[实用新型]一种小型晶体摆放治具平整度检测装置有效
| 申请号： | 201822207068.3 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN209246923U | 公开（公告）日： | 2019-08-13 |
| 发明（设计）人： | 王文博;林土全;詹啸;程浩;金春建 | 申请（专利权）人： | 黄山东晶电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/28 | 分类号： | G01B5/28;G01B5/30;G01B5/14 |
| 代理公司： | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人： | 叶绿林;杨大庆 |
| 地址： | 245000 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 底板 治具 检测 小型晶体 检测板 平整度检测装置 本实用新型 上挡板 摆放 检测领域 平面结构 平行设置 一端设置 侧挡板 底面 应用 | ||
1.一种小型晶体摆放治具平整度检测装置，其特征在于：包括检测底板(1)，安装在检测底板(1)两侧用于限制治具的侧挡板(2)，所述检测底板(1)的一端设置有上挡板(3)，所述检测底板(1)上还设置有与上挡板(3)平行设置的检测板(4)，所述检测板(4)的底面为平面结构，且检测板(4)与检测底板(1)间留有供治具通过的检测间隙(5)。
2.如权利要求1所述的小型晶体摆放治具平整度检测装置，其特征在于：所述检测板(4)的两端固定设置有高度调节杆(6)，高度调节杆(6)的下段为螺纹杆，所述检测底板(1)上设置有螺纹安装孔，高度调节杆(6)与检测底板(1)螺纹连接。
3.如权利要求2所述的小型晶体摆放治具平整度检测装置，其特征在于：所述侧挡板(2)的侧面设置有与检测间隙(5)对应的刻度表(7)。
4.如权利要求1所述的小型晶体摆放治具平整度检测装置，其特征在于：所述检测底板(1)相对于上挡板(3)的另一端还设置有下挡板(8)，所述下挡板(8)内设置有一层海绵垫(9)，所述检测板(4)到上挡板(3)和下挡板(8)的距离大于治具的长度。
5.如权利要求1所述的小型晶体摆放治具平整度检测装置，其特征在于：所述检测底板(1)上还连接设置有支撑座(10)，支撑座(10)与检测底板(1)间通过销轴连接使得检测底板(1)可绕支撑座(10)转动，所述支撑座(10)位于检测底板(1)的中间位置，所述检测底板(1)位于上挡板(3)的一端还设置有支撑轴(11)。
6.如权利要求5所述的小型晶体摆放治具平整度检测装置，其特征在于：所述上挡板(3)上设置有手提把手(12)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于黄山东晶电子有限公司，未经黄山东晶电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201822207068.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
