[实用新型]一种测试底座针

说明书

本实用新型涉及一种测试底座针，包括探针套体，所述探针套体左端连接有导线，且所述探针套体右端插接有针体，且所述针体右端开设有插接槽，通过设有探针套体与插接槽，本实用新型结构新颖，在测试时能够根据需要更换不同型号的探针，同时还能有效避免导线缠绕的情况，通过设有外置连接套、双面胶圈、连接螺纹套，本实用新型能够将探针牢牢的与焊盘连接状态保持一段时间，以便调节仪器、记录信息、观察长时间下的电路状态等，通过设有弧形手捏槽，本实用新型能够有效防止工作人员出现手滑现象，避免了对探针的损坏，同时通过设有压簧，本实用新型能够为针体提供弹性伸缩的回复力，从而能够对探针进行有效保护，延长其使用年限。

技术领域

本实用新型涉及一种测试底座针，属于测量探针技术领域。

背景技术

探针是电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件，探针根据电子测试用途可分为，光电路板测试探针，未安装元器件前的电路板测试与只开路、短路检测探针，在线测试探针，PCB线路板安装元器件后的检测探针，微电子测试探针，即晶圆测试或芯片IC检测探针，一般情况下，印刷电路板及芯片等完成线路布置后，为确定每条线路皆可正常导通，必须用测试探针予以测试，测试探针的一头接触测试点，另一头连接导线，通过导线将测试探针与测试机连接起来，进行测试时，需要在测试探针的尾部连接导线，操作麻烦，而且测试时需要更换不同型号的探针，因此各导线之间易产生缠绕，不能有效满足人们的使用需求。

实用新型内容

实用新型要解决的技术问题克服现有的缺陷，提供一种测试底座针，本实用新型结构新颖，在测试时能够根据需要更换不同型号的探针，同时还能有效避免导线缠绕的情况，本实用新型能够将探针牢牢的与焊盘连接状态保持一段时间，以便调节仪器、记录信息、观察长时间下的电路状态等，本实用新型能够有效防止工作人员出现手滑现象，避免了对探针的损坏，同时本实用新型能够为针体提供弹性伸缩的回复力，从而能够对探针进行有效保护，延长其使用年限，可以有效解决背景技术中的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：

一种测试底座针，包括探针套体，所述探针套体左端连接有导线，且所述探针套体右端插接有针体，且所述针体右端开设有插接槽，且所述插接槽内活动插接有探针，所述针体左端连接有一号连接凸块，且所述探针套体内壁固定设有与一号连接凸块相对应的二号连接凸块，且所述一号连接凸块与二号连接凸块之间固定连接有压簧，所述针体外壁固定设有限位凸圈，且所述探针套体内壁上设有与限位凸圈相互配合的限位卡圈，所述针体右端边缘处通过连接凸圈固定连接有连接螺纹套，且所述探针套体外设有与连接螺纹套相互配合的外置连接套，且所述外置连接套右端边缘处连接有固定圈，且所述固定圈底部开设有胶圈放置槽，且所述胶圈放置槽内固定粘贴有双面胶圈，且所述探针套体外壁两侧对称设有弧形手捏槽。

进一步而言，所述探针左端的外壁表面上与插接槽内壁表面上设有相互配合的螺纹。

进一步而言，所述外置连接套的内壁表面上设有与连接螺纹套相互配合的螺纹。

进一步而言，所述针体与连接螺纹套为一体式结构。

进一步而言，所述外置连接套与固定圈为一体式结构。

进一步而言，所述弧形手捏槽外壁表面上均匀设有防滑橡胶条纹。

本实用新型有益效果：一种测试底座针，由于设有探针套体与插接槽，本实用新型结构新颖，在测试时能够根据需要更换不同型号的探针，同时还能有效避免导线缠绕的情况，由于设有外置连接套、双面胶圈、连接螺纹套，本实用新型能够将探针牢牢的与焊盘连接状态保持一段时间，以便调节仪器、记录信息、观察长时间下的电路状态等，由于设有弧形手捏槽，本实用新型能够有效防止工作人员出现手滑现象，避免了对探针的损坏，同时由于设有压簧，本实用新型能够为针体提供弹性伸缩的回复力，从而能够对探针进行有效保护，延长其使用年限，适合广泛推广。

附图说明