[实用新型]反应槽的旁通式液位检测结构有效

专利信息
申请号: 201822159163.0 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN209181866U 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 左国军;成旭 申请(专利权)人: 常州捷佳创精密机械有限公司
主分类号: G01F23/02 分类号: G01F23/02
代理公司: 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 代理人: 尹彦;胡朝阳
地址: 213000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 反应槽 液位检测管 液位检测 旁通式 本实用新型 旁通管 连通 液位传感器 底部连通 空气连通 竖直设置 维护方便 准确度 排气管 上端 硅片 内液 下端 检测 安全
【说明书】:

实用新型公开了一种反应槽的旁通式液位检测结构,包括反应槽;旁通管,其一端与反应槽的底部连通;液位检测管,竖直设置,其下端与旁通管的另一端连通;液位传感器,安装在液位检测管的顶部;排气管,其一端与液位检测管的上端连通,另一端与空气连通。本实用新型反应槽的旁通式液位检测结构,反应槽内液位高度的检测准确度较高,不会损坏硅片,维护方便、安全。

技术领域

本实用新型涉及反应槽技术领域,更具体地说,是涉及一种反应槽的旁通式液位检测结构。

背景技术

在清洗设备中,接触和浸没硅片的液位高度对片子的绒面和清洗效果有很大的影响,特别是在进行湿法刻蚀工序上,液位太高会导致过刻,液位太低硅片可能接触反应不充分,绒面不均匀,减重达不到要求,在硅片电池制成的过程中,不同的工艺对片子的减重也不同,需要对液位的高度和配方进行调整。

目前,反应槽内的液位高度是通过浮球来检测的,这样的检测结构具有以下缺点:

1.浮球在反应槽内,处理中的硅片可能会碰到,造成硅片的损害,及堵片;

2.浮球检测只是开关量检测,无法准确定义液位的高度,无法达到同样的工艺,同样的硅片清洗反应时,每次调节的液位高度一致,

3.调节控制液位的高度时,更多是靠经验,只能反馈泵的频率。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题,是提供一种反应槽的旁通式液位检测结构,具有较高的液位检测准确度,不会损坏硅片,维护方便、安全。

为了实现上述的目的,本实用新型的技术方案是:

一种反应槽的旁通式液位检测结构,包括反应槽;旁通管,其一端与反应槽的底部连通;液位检测管,竖直设置,其下端与旁通管的另一端连通;液位传感器,安装在液位检测管的顶部;排气管,其一端与液位检测管的上端连通,另一端与空气连通。

进一步地,所述液位检测管的下侧还设置有排液阀。

进一步地,所述反应槽的两侧还设有溢液槽。

进一步地,所述反应槽的下侧还设有调节阀门、泵和储液槽。

进一步地,所述调节阀门的一端通过进液管与反应槽的底部连通,调节阀门的另一端与泵的一端连通,泵的另一端通过管道与储液槽连通。

进一步地,所述排液阀的一端与液位检测管连通,另一端与溢流管连通。

进一步地,所述溢液槽通过溢流管与储液槽连通。

本实用新型的有益效果:本实用新型反应槽的旁通式液位检测结构,反应槽内液位高度的检测准确度较高,不会损坏硅片,维护方便、安全。

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细说明。

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型解决的技术问题、采用的技术方案、取得的技术效果易于理解,下面结合具体的附图,对本实用新型的具体实施方式做进一步说明。

需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本实用新型有关的部分而非全部结构。

如图1所示,在本实用新型的一个具体实施例中,提供了一种反应槽的旁通式液位检测结构,包括反应槽1、旁通管3、液位检测管6、液位传感器4和排气管5。

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