[实用新型]应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置

说明书

本实用新型公开了一种应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，涉及图像传感器测试机设备领域，包括测试台面；测试台面上设置有用于放置CMOS图像传感器的凹口部；凹口部的口部向外延伸有环状倾斜面；倾斜面的横截面内径大于凹口部的横截面内径。本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，凹口部倾斜面的设置可及时矫正CMOS图像传感器置于凹口部过程中出现的位置偏差，保证CMOS图像传感器准确置入测试台面凹口部中顺利进行测试；辅助定位装置设计结构简单，实用性强，节约企业的投资和运营成本。

技术领域

本实用新型涉及图像传感器测试机设备技术领域，尤其涉及一种应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置。

背景技术

CMOS图像传感器是一种典型的固体成像传感器，与CCD有着共同的历史渊源。CMOS图像传感器通常由像敏单元阵列、行驱动器、列驱动器、时序控制逻辑、AD转换器、数据总线输出接口、控制接口等几部分组成，这几部分通常都被集成在同一块硅片上。其工作过程一般可分为复位、光电转换、积分、读出几部分。

CMOS图像传感器具有随机窗口读取能力、抗辐射能力、系统复杂程度和可靠性、非破坏性数据读出方式、优化的曝光控制等优势，鉴于CMOS图像传感器相对优越的性能，使得CMOS图像传感器广泛应用于计算机摄像头、数码相机、PDA和手机、玩具及倒车系统、安全监控、可视电话和指纹识别器等领域中。

在CMOS图像传感器生产过程中，为了检测生产出的CMOS图像传感器是否合格，需要对CMOS图像传感器进行测试。CMOS图像传感器的测试机一般是CIS测试机。CMOS图像传感器测试机包括测试台面和盖合于测试台面上的盖合部，测试台面上设置有用于放置CMOS图像传感器的凹口部，凹口部用于将CMOS图像传感器定位，凹口部的横截面形状与CMOS图像传感器的横截面形状相吻合；盖合部上设置有与凹口部相契合的凸台部。但是，现有技术中，由于设备或者操作技术等综合因素，将CMOS图像传感器置于凹口部内的过程中会出现移位的现象，导致CMOS图像传感器无法准确的置入凹口部中进行测试。

实用新型内容

针对上述存在的问题，本实用新型提供一种应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，以解决现有技术中CMOS图像传感器置入凹口部中出现偏差时无法测试的问题，通过设置于测试台面的辅助定位装置，可及时矫正CMOS图像传感器的位置，保证CMOS图像传感器准确置入凹口部中顺利进行测试。

为实现上述目的，本实用新型提供的技术方案为：

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，包括测试台面；所述测试台面上设置有用于放置CMOS图像传感器的凹口部；所述凹口部的口部向外延伸有环状倾斜面；所述倾斜面的横截面内径大于所述凹口部的横截面内径。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，优选地，所述测试台面设置有用于振动所述测试台面的振动装置。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，优选地，所述测试台面内设置有空腔；所述振动装置设置于所述空腔的内壁上。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，优选地，所述振动装置为电机。

上述技术方案具有如下优点或者有益效果：

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机测试台面的辅助定位装置，通过在凹口部的口部设置环状倾斜面，当将CMOS图像传感器置于凹口部的过程中出现偏差时，倾斜面可为CMOS图像传感器置于凹口部中提供过渡，避免出现偏差时CMOS传感器无法置入凹口部中，测试机将CMOS图像传感器压坏的问题；CMOS图像传感器可在自身重力作用下沿倾斜面准确滑入凹口部中；为将CMOS图像传感器置于凹口部的过程提供“容错空间”，保证CMOS图像传感器准确置入凹口部中顺利进行测试。