[实用新型]一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备

说明书

本实用新型提供了一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备，包括待测模块和连接于所述待测模块的MCU模块，所述待测模块的输入端通过电磁继电器和控制开关连接于供电电源，所述电磁继电器连接于所述MCU模块，所述待测模块的输出端连接有负载模块，所述待测模块包括多个供充电控制模块插接的工装位，多个工装位相互串联连接且分别连接于所述MCU模块，且电磁继电器控制端连接有第一开关电路，所述第一开关电路包括第一开关管，所述第一开关管的控制端连接于所述MCU模块。本实用新型将充电控制模块进行串联老化，大大加快老化进度，同时缩减工人频繁操作的时间，提高工作效率与生产效率。

技术领域

本实用新型属于电动汽车充电枪的充电模块老化技术领域，尤其涉及一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备。

背景技术

充电控制模块在出厂之前都需要进行老化测试，通常是将充电控制模块的输出端接上负载进行老化检测，以防止有缺陷的产品流入市场。

现有技术中，充电控制模块的老化设备都只能针对一个充电控制模块进行老化测试，工厂员工需要采用一个个检测的方式对充电控制模块一个个地进行检测，但是在出厂量大的时候，常常会出现检测跟不上生产的矛盾，导致整体工序效率大大降低；

此外，现有技术中充电控制模块只能提供一种老化电流，存在适用范围小，实用性不强等缺点。

发明内容

本实用新型的目的是针对上述问题，提供一种能够提高工作效率的基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备。

为达到上述目的，本实用新型提出了一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备，包括待测模块和连接于所述待测模块的MCU模块，所述待测模块的输入端通过电磁继电器和控制开关连接于供电电源，所述电磁继电器连接于所述MCU模块，所述待测模块的输出端连接有负载模块，所述待测模块包括多个供充电控制模块插接的工装位，多个工装位相互串联连接且分别连接于所述MCU模块，所述电磁继电器的控制端连接有第一开关电路，所述第一开关电路包括第一开关管，所述第一开关管的控制端连接于所述MCU模块。

在上述的基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备中，每个工装位的输出端分别通过光耦电路连接于所述MCU模块，所述光耦电路包括光耦器，且每个工装位的两个输出端分别连接于相应光耦器的两个输入控制端，每个光耦器的输出被控端连接于所述MCU模块。

在上述的基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备中，每个光耦器的输出被控端均连接于输入扩展模块的输入端，所述输入扩展模块输出端连接于所述MCU模块。

在上述的基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备中，每个工装位的CP信号端分别连接有第二开关电路，所述第二开关电路包括第二开关管，且所述第二开关管的控制端连接于所述MCU 模块。

在上述的基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备中，每个第二开关管的控制端均连接于第三驱动芯片，所述第三驱动芯片的输入端连接于所述MCU模块。

在上述的基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备中，所述负载模块包括至少两个相互并联的负载电路，每个负载电路包括负载电阻和第三开关电路，所述第三开关电路的控制端连接于所述MCU模块。

在上述的基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备中，所述第三开关电路包括固态继电器和第三开关管，所述固态继电器的负载端连接于所述负载电阻，所述固态继电器的控制端连接于所述第三开关管，所述第三开关管的控制端连接于所述MCU模块。

在上述的基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备中，所述MCU模块还连接有第一驱动芯片和第二驱动芯片，所述第一驱动芯片连接有第一八段数码管，第二驱动芯片连接有第二八段数码管。