[实用新型]用于荧光X射线分析装置的夹具

说明书

本实用新型提供一种无需在试料架与用于荧光X射线分析装置的夹具之间转移试料的用于荧光X射线分析装置的夹具。用于荧光X射线分析装置的夹具，为与荧光X射线分析装置共用在中央处具有供试料配置的凹部或者孔的X射线衍射装置的试料架的夹具，具备：基座部件，其具有与所述试料架的下表面抵接的第一上表面、和以在与所述第一上表面之间具有高低差的方式而形成的第二上表面；以及环，其具有所述试料架的外侧侧面以及设置有所述高低差的区域的外侧侧面与内侧侧面抵接的圆筒部、和被设置在所述圆筒部的下端部并与所述第二上表面抵接的法兰，并且在与所述试料架以及所述基座部件之间夹入对所述试料的表面进行覆盖的薄膜。

技术领域

本实用新型涉及一种用于荧光X射线分析装置的夹具。

背景技术

作为使用了X射线的分析装置，已知对试料的结晶构造进行解析的X射线衍射装置、和对试料中所包含的元素进行分析的荧光X射线分析装置。例如，在下述专利文献1中公开了包括荧光X射线分析装置和X射线衍射装置的水泥制造系统。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开第2013-133237号公报

实用新型内容

实用新型所要解决的课题

然而，有时会对同一试料实施由X射线衍射装置进行的构造解析、和由荧光X射线分析装置进行的元素分析。进行各分析时，可使用用于将试料载置在装置上的夹具。在此，X射线衍射装置中所使用的夹具与荧光X射线分析装置中所使用的夹具，形状是不同的。

具体而言，图6(a)为表示现有的X射线衍射装置中所使用的夹具(以下称为试料架104)的图。图6(b)为表示现有的荧光X射线分析装置中所使用的夹具(以下称为现有的用于荧光X射线分析装置的夹具600)的图。

试料架104在中央处具有供试料102配置的凹部。具体而言，例如，试料架104为在俯视观察下为圆形，边缘的附近比中央部厚的形状。试料架104在被设置于中央部的凹部中配置有作为测量对象的试料102。试料架104被载置于X射线衍射装置中，从而通过向试料102表面照射X射线来进行测量。

现有的用于荧光X射线分析装置的夹具600包括单元602、卡环604、外侧容器606。具体而言，单元602由树脂或金属形成为圆筒状。卡环604为，内径与单元602的外形抵接的大小，并且形成为环状。

卡环604夹着薄膜116，与单元602的下部嵌合。试料102被配置在单元602的内部且薄膜116之上。配置有试料102的单元602以及卡环604被配置在外侧容器606中。

外侧容器606为圆筒状，并且在上侧以及下侧具有开口。外侧容器606的下侧开口小于单元602的外径，以对单元602以及卡环604进行支承。此外，外侧容器606在外侧侧面具有高低差。外侧容器606的上侧的直径大于下侧的直径。

荧光X射线分析装置具有供用于荧光X射线分析装置的夹具配置的转台400。该转台400设置有小于外侧容器606的上部的外径，并且大于下部的外径的孔。外侧容器606被配置于该孔中。被设置于外侧容器606的高低差的部分与荧光X射线分析装置的转台400的上表面抵接。如图6(b)所示，从下表面对试料102照射第一次X射线402，从而通过从试料发出的第二次X射线404来进行元素分析。

在对同一试料102进行构造解析以及元素分析的情况下，需要在试料架104与现有的用于荧光X射线分析装置的夹具600之间转移试料102。因此，测量需要时间，而且不方便。

本实用新型是鉴于上述课题而完成的，其目的在于提供一种无需在X射线衍射装置中所使用的试料架与用于荧光X射线分析装置的夹具之间转移试料的用于荧光X射线分析装置的夹具。

用于解决课题的手段