[实用新型]一种振动测试样品的夹具

说明书

本实用新型公开了一种振动测试样品的夹具，其特征在于，包括：夹具底板；固定在所述夹具底板上的多个测试载台，每个测试载台具有相同或不同的测试方向。

技术领域

本实用新型涉及封装测试技术领域。具体而言，本实用新型涉及一种振动测试样品的夹具。

背景技术

半导体集成电路芯片或传感器芯片在制造完成后，通常需要进行各类测试，以便验证芯片是否能正常工作，并获得工艺稳定性和器件一致性等信息。

某些芯片需要工作在振动环境中，例如，发动机的传感器芯片。对于这类芯片，需要通过振动测试来进行产品可靠性和失效验证，从而确保该产品的质量。

现有的芯片振动测试装置每次对待测试芯片进行单方向的测试。然而，芯片实际的工作环境复杂，每个方向上都可能存在振动。为了更全面的评估芯片的可靠性，需要沿多个方向对待测试芯片进行多次的测试。这造成芯片测试效率低下。

因此，本领域需要一种能够提高样品测试效率的结构和方法。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，根据本实用新型的一个方面，提供一种振动测试样品的夹具，其特征在于，包括：

夹具底板；

固定在所述夹具底板上的多个测试载台，每个测试载台具有相同或不同的测试方向。

在本实用新型的一个实施例中，所述夹具底板是板状长方体结构，所述夹具底板的正面和背面的面积大于侧面的面积，所述夹具底板的背面与机台设备接触。

在本实用新型的一个实施例中，所述夹具底板具有穿过背面或正面的一个或多个固定孔。

在本实用新型的一个实施例中，所述多个测试载台包括第一方向的测试载台、第二方向的测试载台和第三方向的测试载台，所述第一方向的测试载台、第二方向的测试载台和第三方向的测试载台是板状长方体结构，所述第一方向的测试载台、第二方向的测试载台和第三方向的测试载台的正面和背面的面积大于侧面的面积，第一方向的测试载台和第二方向的测试载台的正面分别与夹具底板的正面垂直相交，第一方向的测试载台和第二方向的测试载台的正面垂直相交，第三方向的测试载台固定在第一方向的测试载台和第二方向的测试载台的顶部，第一方向的测试载台、第二方向的测试载台的正面和第三方向的测试载台的正面相互垂直。

在本实用新型的一个实施例中，所述多个测试载台包括第一方向的测试载台、第二方向的测试载台和第三方向的测试载台的正面上分别具有一个或多个安装孔。

在本实用新型的一个实施例中，样品通过安装孔固定在载台上。

在本实用新型的一个实施例中，所述多个测试载台包括第一方向的测试载台、第二方向的测试载台、第三方向的测试载台、第四方向的测试载台，所述第一方向的测试载台、第二方向的测试载台、第三方向的测试载台和第四方向的测试载台是板状长方体结构，所述第一方向的测试载台、第二方向的测试载台和第三方向的测试载台的正面和背面的面积大于侧面的面积，第一方向的测试载台、第二方向的测试载台、第三方向的测试载台、第四方向的测试载台的测试方向均不同。

本实用新型的方案可实现同系列多颗样品位于多个方向同时进行振动测试，无需对该系列样品进行三次单方向测试；实现大批量样品同时作业，提高了作业效率；将样品及夹具牢固固定在设备平台基座上，大大降低夹具自身晃动的风险，减少检测设备对实验结果不确定度的影响。

附图说明

为了进一步阐明本实用新型的各实施例的以上和其它优点和特征，将参考附图来呈现本实用新型的各实施例的更具体的描述。可以理解，这些附图只描绘本实用新型的典型实施例，因此将不被认为是对其范围的限制。在附图中，为了清楚明了，相同或相应的部件将用相同或类似的标记表示。