[实用新型]一种半导体测试分选机阻挡机构

说明书

本实用新型涉及半导体加工设备技术领域，具体涉及一种半导体测试分选机阻挡机构，包括阻挡条、滑动块、立柱、连接杆、浮动支架、气缸，滑动块固接在阻挡条两端；立柱穿透滑动块且能自由滑动，连接杆上端铰接在滑动块上，其下端水平固接有短轴；浮动支架由两端的倾斜段、中部水平段组成，倾斜段上沿其长度方向设有供短轴插合的腰型槽。本实用新型通过气缸的动作，驱动浮动支架移动，短轴在腰型槽内滑动，通过腰型槽内壁抵顶短轴，使连接杆驱动滑动块在立柱上滑动，从而驱动阻挡条移动，使阻挡条的移动过程更稳定、顺畅，同时由于只设置一个气缸，减少了成本、避免卡料现象发生。

技术领域

本实用新型涉及半导体加工设备技术领域，具体涉及一种半导体测试分选机阻挡机构。

背景技术

中国专利CN201720946348.9公开了一种半导体测试分选机用的阻挡装置,一种半导体测试分选机用的阻挡装置，包括阻挡条，在所述阻挡条的左右两末端分别设置杠杆和连接块，所述连接块与所述阻挡条的末端固定连接，所述杠杆设置在支架上，所述杠杆的一端抵住所述连接块的上端面，所述杠杆的另一端与气缸连接；在所述连接块的一侧设置导向块，所述连接块与所述导向块滑动连接，在连接块和导向块之间设置压簧，通过两个气缸同时动作，驱动阻挡条移动，设置两个气缸，实际作业过程中，由于两个气缸磨损程度不同，造成气缸动作不同步，此时阻挡条将产生倾斜，造成卡料现象。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的问题，提供一种半导体测试分选机阻挡机构，它可以实现提高阻挡条移动的稳定性、避免卡料发生。

为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种半导体测试分选机阻挡机构，包括阻挡条，还包括：

滑动块，所述滑动块设有两个，分别固接在所述阻挡条两端；

立柱，所述立柱穿透滑动块且能自由滑动，其长度方向与所述阻挡条厚度方向平行；

连接杆，所述连接杆上端铰接在滑动块上，其下端水平固接有短轴；

浮动支架，所述浮动支架由两端的倾斜段、中部水平段组成，所述倾斜段上沿其长度方向设有供短轴插合的腰型槽，所述短轴在腰型槽内能自由滑动；

气缸，所述气缸伸缩杆连接在水平段上且其驱动浮动支架竖直移动。

进一步地，所述气缸连接在水平段中部位置上。

进一步地，所述短轴上套设有滚动轴承，所述滚动轴承卡合在腰型槽内。

进一步地，两个所述倾斜段夹角定义为A，90°＜A＜120°。

进一步地，所述浮动支架竖直移动的驱动形式包括但不限定于使用气缸。

本实用新型的有益效果：通过气缸的动作，驱动浮动支架移动，短轴在腰型槽内滑动，通过腰型槽内壁抵顶短轴，使连接杆驱动滑动块在立柱上滑动，从而驱动阻挡条移动，使阻挡条的移动过程更稳定、顺畅，同时由于只设置一个气缸，减少了成本、避免卡料现象发生。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型使用状态的结构示意图；

附图中，各标号所代表的部件如下：