[实用新型]光学元件反射率测量仪

说明书

光学元件反射率测量仪，它涉及测量仪技术领域。光学元件反射率测量仪它包含工作台、点光源、分光镜、升降台、旋转轴、置物板、夹片、光电二极管、前置放大器、锁相放大器、信号发射器、控制面板、信号采集系统、信号放大系统、数据分析处理系统、接收系统、显示系统，点光源设置在工作台的左侧，升降台上固定连接旋转轴，旋转轴上设置有置物板，置物板边缘设置有夹片，光电二极管设置在置物板右侧，锁相放大器的前侧表面上设置有信号发射器，控制面板设置在工作台最右侧。采用上述技术方案后，本实用新型的有益效果为：它的结构设计合理，可以对待测的光学元件的测量高度和角度进行调节，保证测量结果的精度更高，适合推广使用。

技术领域

本实用新型涉及测量仪器技术领域，具体涉及光学元件反射率测量仪。

背景技术

光谱测量在材料的分析测试和材料的特性研究中有着重要的作用。就光学加工而言，主要是利用各种光谱测量放大来对各类光学元件进行反射率的测量。在国家许多重要的应用工程和科研实验中，都需要大量的光学元件，而光学元件的质量是保障整个试验成功的重要因素，所以需要对光学元件的重要行难呢过反射率进行高精度的测量。在以前，测量光学元件的反射率的主要仪器是分光光度计，这种仪器测量结果精确，且能够测量光学元件在某个波段的透过率，但是分光光度计一般采用光电倍增管加积分球的技术手段，光电倍增管需要在 黑暗的环境中使用，造成这种仪器只能测量尺寸较小的光学元件的反射率，而不适合测量较大尺寸的光学元件，尤其不能实现在线测量。因此市面上开始出现对于光学元件反射率的测量仪。中国专利CN201620028723.7公开了一种光学元件反射率测量仪，用于光学元件反射率的测量。本实用新型的光学元件反射率测量仪采用光电二极管采集光学元件或光学标准片的反射光并转换为电信号，电信号再经过前置放大器和锁相放大器放大后，得到与信号光强度成正比的直流电压信号。该仪器以测量光学标准片反射光所获得的直流电压信号为基准，测量待测元件反射光所获得的直流电压信号与基准比对，获得待测光学元件的反射率。该实用新型虽然具有具有易于实现的优点，且能够实现对光学元件反射率的在线测量，但是它的结构过于简单，不能够对待测的光学元件的测量位置进行调节，无法保证光学元件测量角度的最佳，不利于测量的结果，不适合推广使用。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种光学元件反射率测量仪，它的结构设计合理，可以对待测的光学元件的测量高度和角度进行调节，保证测量结果的精度更高，适合推广使用。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案是：它包含工作台1、点光源2、分光镜3、升降台4、旋转轴41、置物板42、夹片421、光电二极管5、前置放大器6、锁相放大器7、信号发射器71、控制面板8、信号采集系统9、信号放大系统10、数据分析处理系统11、接收系统12、显示系统13，点光源2设置在工作台1的左侧，分光镜3设置在升降台4和点光源2之间，升降台4上固定连接旋转轴41，旋转轴41上设置有置物板42，置物板42边缘设置有夹片421，光电二极管5设置在置物板42右侧，锁相放大器7的左侧设置有前置放大器6，锁相放大器7的前侧表面上设置有信号发射器71，控制面板8设置在工作台1最右侧，信号采集系统9和信号放大系统10信号连接，信号放大系统10和数据分析处理系统11电性连接，数据分析处理系统11和信号发射器71电性连接，信号发射器71和接收系统12信号连接，接收系统12和显示系统13电性连接。

所述的升降台4包含支撑板43、固定板44、第一伸缩架45和第二伸缩架46，支撑板43设置在固定板44上方，固定板44和支撑板43通过第一伸缩架45和第二伸缩架46固定连接。

所述的第一伸缩架45和第二伸缩架46均呈“V”形，且第一伸缩架45和第二伸缩架46中设置有螺钉461。

所述的控制面板8前侧表面设置有显示屏81，显示屏81右下角设置有开关82。

所述的显示系统13为显示屏81。

所述的工作台1下表面边缘固定连接有支架14。