[实用新型]一种测针组件有效
| 申请号: | 201821963961.2 | 申请日: | 2018-11-26 |
| 公开(公告)号: | CN209459606U | 公开(公告)日: | 2019-10-01 |
| 发明(设计)人: | 孟庆周 | 申请(专利权)人: | 深圳市塔雷斯测量设备有限公司 |
| 主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 逯恒 |
| 地址: | 518100 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测针 定位槽 连接孔 定位部 锥面配合 测头 嵌设 测量 本实用新型 可拆卸连接 精度影响 装配 保证 | ||
本实用新型的测针组件,包括测针和测头,测针上设有连接部和定位部,连接部设于测针的端部,测头上设有连接孔和定位槽,连接部与连接孔之间形成可拆卸连接,连接部连接在连接孔中时,定位部嵌设于定位槽中与定位槽形成锥面配合。通过连接部与连接孔的连接使得测针连接在测头上,当连接部与连接孔连接时,定位部能够嵌设于定位槽中并且与定位槽形成锥面配合,是一种测针与测头装配精度高、长期使用后对于测量精度影响小、能够保证高测量精度的测针组件。
技术领域
本实用新型涉及精密测量设备领域,具体而言,涉及一种测针组件。
背景技术
测针作为接触式的精密测量仪器的关键性部件,在使用时测针安装在测头上作为触发式传感器的执行元件。由于测针的类型多样,在测量不同的对象时,需要采用不同的类型的测针,同一测针使用一段时间后,测针的精度会受到影响,需要及时更换测针,从而保证测量精度。因此,测针与测头需要做成分体式的结构,通过装配进行使用,测针安装在测头上时相对测头的形位精度,通常是同轴度直接影响了测量精度。
现有技术中,测针在连接到测头上使用后,由于测针在测量时需要反复地与被测量的工件进行接触从而获得被测量工件上的多个点的位置信息,从而得到被测量工件的尺寸。因此,除去测针与测头的初始装配精度以外,由于测针的反复受力会对测针与测头之间安装精度受到影响,造成测针的测量位置发生一定程度的偏差,进而影响了测量仪器的测量精度。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的是为了克服现有技术中的不足,提供一种测针与测头装配精度高、长期使用后对于测量精度影响小、能够保证高测量精度的测针组件。
为此,本实用新型提供如下技术方案:
一种测针组件,包括测针和测头,所述测针上设有连接部和定位部,所述连接部设于所述测针的端部,所述测头上设有连接孔和定位槽,所述连接部与所述连接孔之间形成可拆卸连接,所述连接部连接在所述连接孔中时,所述定位部嵌设于所述定位槽中与所述定位槽形成锥面配合。
作为对上述的测针组件的进一步可选的方案,所述定位槽为喇叭槽,所述喇叭槽由所述测头的端面过渡至所述连接孔处。
作为对上述的测针组件的进一步可选的方案,所述连接部与所述连接孔通过螺接形成可拆卸连接。
作为对上述的测针组件的进一步可选的方案,所述连接部与所述连接孔通过弹性过盈插接形成可拆卸连接。
作为对上述的测针组件的进一步可选的方案,所述连接部呈圆柱状,柱面上设有多个夹紧部,所述夹紧部能够相对所述连接部的柱面浮动。
作为对上述的测针组件的进一步可选的方案,所述连接部与所述连接孔通过磁吸连接。
作为对上述的测针组件的进一步可选的方案,所述测针组件还包括测座,所述测头连接在所述测座上。
作为对上述的测针组件的进一步可选的方案,所述测头与所述测座之间形成可拆卸连接。
作为对上述的测针组件的进一步可选的方案,所述测针包括测球、测杆和测柄,所述测球和所述测柄分别设于所述测杆的两端,所述测柄的杆径大于所述测杆的杆径,所述连接部和所述定位部形成于所述测柄上。
作为对上述的测针组件的进一步可选的方案,所述测杆平滑地过渡连接至所述测柄。
本实用新型的探针组件至少具有如下优点:
本实用新型的测针组件,包括测针和测头,测针上设有连接部和定位部,连接部设于测针的端部,测头上设有连接孔和定位槽,连接部与连接孔之间形成可拆卸连接,连接部连接在连接孔中时,定位部嵌设于定位槽中与定位槽形成锥面配合。
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