[实用新型]一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡

说明书

本实用新型公开了一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡，包括多通道开关量输出模块、FPGA、微处理器、电源模块和通讯接口；多通道开关量输出模块的每一个通道输出开关量校验信号，实现对被测试电路的开关量输入模块进行自动同时校验；FPGA用于和自动测试平台通讯，接收所需数据和状态参数，控制开关量输出通道进行同时校验以及与微处理器交换数据；微处理器负责处理和控制，完成开关量信息的输出。本实用新型可以实现对被测试电路的开关量输入模块进行自动同时检测，提高了测试的自动化水平、工作效率和测试精度，降低了人工成本。

技术领域

本实用新型涉及电路板测试领域，尤其涉及一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡。

背景技术

国外从20世纪初就开始研制电路板测试系统，起初主要应用于军事领域。据统计采用电路板测试后，可以使装备的测试效率提高10倍以上，在其全寿命周期内节省费用20％以上。鉴于电路板测试在生产维护中的卓越功能，世界各国都投入研制各自的电路板测试技术，促进了这一行业的飞速发展。其中开关量输出校验是电路板测试的重要组成部分。

现有技术中，对电路板开关量输入模块的测试主要依靠人工完成，利用单一功能测试平台逐一测试开关量输入模块。这需要大量人工以及时间来完成该工作，并且测试的效率及精度都不高。因此，为了提高电路板测试的自动化水平、工作效率以及测试精度同时降低测试工作的人工成本，需要开发电路板自动测试平台装置中的开关量输出校验装置。

因此，本领域的技术人员致力于开发一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡，可以实现对电路板中开关量信号输入模件的自动检测。

实用新型内容

有鉴于现有技术的上述缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是如何实现开关量输入模件的自动检测以及与自动测试平台进行通讯。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种用于IO自动测试平台的开关量输出校验卡，包括多通道开关量输出模块、FPGA、微处理器、电源模块和通讯接口，其中：

所述多通道开关量输出模块的每一个通道输出开关量校验信号，实现对被测试电路的开关量输入信号模块进行自动同时校验；

所述FPGA与所述多通道开关量输出模块连接，用于和自动测试平台通讯，接收所需要的数据和状态参数；将接收到的多通道开关量发送给所述多通道开关量输出模块；与所述微处理器进行数据交换；

所述微处理器与所述FPGA通过并行总线连接进行通讯，负责对采集数据进行处理，完成多通道开关量的输出；

所述通讯接口用于与自动测试平台进行数据传输；

所述电源模块为所述开关量输出校验卡供电。

进一步地，所述多通道开关量输出模块包括32个开关量输出通道。

进一步地，所述多通道开关量输出通道的每一个通道输出的开关量信号可驱动负载电压40V，驱动负载电流4.5A。

进一步地，所述通讯接口采用并行异步串口通讯。

进一步地，所述微处理器为32位的ARM7M0516LAN芯片。

进一步地，所述FPGA内部包括一个双口RAM，所述FPGA通过双口单片机ARM与外部交换数据。

进一步地，所述FPGA为Lattice公司LCMX02-1200HC-6TG100芯片。

进一步地，所述微处理器采用高速磁介质隔离芯片。

进一步地，所述电源模块将两路24V直流供电通过2个二极管进行比较，选择压值大的一路源转换为正负12V、5V或3.3V直流电源。

进一步地，所述开关量输出校验卡还包括一个与所述微处理器相连的看门狗电路。