[实用新型]一种SSD电参数测试装置有效

专利信息
申请号: 201821896429.3 申请日: 2018-11-16
公开(公告)号: CN209000548U 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 程敬同 申请(专利权)人: 深圳捷誊技术有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 郭伟刚
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 连接座 弹针 标准参数 测试治具 显示器 本实用新型 电参数测试 第一壳体 下压部件 测试点 电连接 载板 参数显示 测试参数 弹性接触 导线连接 第二壳体 相对设置 一端设置 板固定 电参数 上表面 多路 仪表 测试
【说明书】:

实用新型涉及一种SSD电参数测试装置,包括测试治具和标准参数显示器,所述测试治具包括第一壳体、载板、下压部件、弹针以及第一连接座,所述载板固定在第一壳体上表面,所述下压部件与载板相对设置,所述弹针一端与第一连接座电连接,另一端设置在所述载板中,且所述弹针的位置与所述PCB板上的测试点位置相对应;所述标准参数显示器包括第二壳体、第二连接座以及与所述第二连接座相连的参数显示仪表,所述第二连接座通过第二导线与所述第一连接座电连接。本实用新型利用测试治具对PCB板进行精确的定位,通过多路弹针与PCB板上的测试点弹性接触,将各项电参数通过导线连接到标准参数显示器上,可简单快速的测试所需求的测试参数。

技术领域

本实用新型涉及存储设备领域,具体而言,涉及一种SSD电参数测试装置。

背景技术

传统的SSD(固态硬盘)的电参数是通过用万用表,示波器等,通过在SSD上PCB板的测试点焊接跳线或直接用表笔探针进行测量,这种测量方式具有测量效率低、测量过程复杂,而且一不小心就可能物理碰坏PCB板上的元器件以及搭线错误导致电路短路烧坏PCB板。

实用新型内容

为解决上述技术问题,本实用新型提供一种SSD电参数测试装置,利用测试治具对PCB板进行精确的定位,通过多路弹针与PCB板上的测试点弹性接触,将各项电参数通过导线连接到标准参数显示器上,可简单快速的测试所需求的测试参数。

本实用新型采用的技术方案是:提供一种SSD电参数测试装置,包括测试治具和标准参数显示器,所述测试治具包括第一壳体、用于放置SSD PCB板的载板、用于向下按压所述PCB板的下压部件、弹针以及安装在所述第一壳体上的第一连接座,所述载板固定安装在所述第一壳体上表面,所述下压部件与所述载板相对设置,所述弹针一端通过第一导线与所述第一连接座电连接,另一端设置在所述载板中,且所述弹针的位置与所述PCB板上的测试点位置相对应,当所述下压部件按压位于载板上的PCB板时,所述弹针将与PCB板上的测试点相接触;所述标准参数显示器包括第二壳体、安装在所述第二壳体上的第二连接座以及与所述第二连接座相连的参数显示仪表,所述第二连接座通过第二导线与所述第一连接座电连接。

在本实用新型所述的SSD电参数测试装置中,所述下压部件包括竖立在所述第一壳体上表面的支架、安装在所述支架上的固定板、安装在所述固定板上的下压手柄以及与所述下压手柄下端固定相连的下压件。

在本实用新型所述的SSD电参数测试装置中,所述下压件包括与所述下压手柄相连的压板和与所述压板下端相连的压棒,所述压棒与所述PCB板上未设置元器件的位置相对应。

在本实用新型所述的SSD电参数测试装置中,在所述支架两侧设有竖向的线性导轨及活动安装在所述线性导轨上的滑块,所述滑块下端与所述压板固定相连,当所述滑块移动至所述线性导轨最下端时,所述压棒恰好将所述PCB板紧压于所述载板上使所述弹针将与PCB板上的测试点相接触。

在本实用新型所述的SSD电参数测试装置中,所述弹针、所述第一连接座、所述第二连接座、参数显示仪表均设有多个,且分别一一对应相连。

在本实用新型所述的SSD电参数测试装置中,所述参数显示仪表包括电压表和电流表。

在本实用新型所述的SSD电参数测试装置中,在所述第一壳体上设有多个散热孔。

在本实用新型所述的SSD电参数测试装置中,所述第一壳体包括中空的底框和可拆卸安装在所述底框上侧的面板。

在本实用新型所述的SSD电参数测试装置中,所述载板和面板均为防静电玻纤板。

在本实用新型所述的SSD电参数测试装置中,所述参数显示仪表的仪表盘上标设有SSD的安全参数区域。

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