[实用新型]一种超薄PCB基板的封装结构有效
申请号: | 201821892387.6 | 申请日: | 2018-11-16 |
公开(公告)号: | CN209071312U | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 岳长来 | 申请(专利权)人: | 深圳市和美精艺科技有限公司 |
主分类号: | H01L23/12 | 分类号: | H01L23/12;H01L21/683;H05K3/00;H05K1/18 |
代理公司: | 深圳市嘉宏博知识产权代理事务所 44273 | 代理人: | 孙强 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 铜箔层 剥离层 可分离 铜层 超薄封装基板 封装结构 超薄PCB 黏着层 基板 本实用新型 绝缘材料层 半固化片 晶圆芯片 | ||
本实用新型涉及一种超薄PCB基板的封装结构,其包括超薄封装基板、晶圆芯片以及绝缘材料层,该超薄封装基板底面上设置有黏着层,该黏着层下方连接有可分离铜箔层,该可分离铜箔层包括铜箔层、剥离层以及载体铜层,其中,该载体铜层设置在该剥离层底面上,该铜箔层设置在该剥离层顶面上,半固化片连接在该可分离铜箔层的该载体铜层底面上。
技术领域
本实用新型涉及一种PCB基板的封装结构,特别是指一种在生产超薄PCB线路板时采用临时键合的方法进行生产的结构。
背景技术
自从封装工艺问世以来,由于其高可靠性、便捷性、易操作性等,其所应用范围已经越来越广泛,且随着对芯片散热的要求越来越高,封装则越薄越好。具体而言,封装基板逐步朝向超薄及小型密集化的方向发展,对于基板封装工艺而言,如何提高超薄基板的封装能力成为了相当重要的议题。
为了提高封装基板的散热能力,如图1所示,通常通过降低封装基板的厚度来提高封装后的基板散热能力,即降低封装基板11的厚度,在此基础上,封装晶圆12的热烈能够较快捷的通过封装基板传导出去,进而起到良好的散热作用。然而,在此结构中,由于封装基板11的厚度降低,其对应的硬度、承载力均明显下降,由此带来的封装难度不断增大,对于超薄封装基板再采用传统封装工艺加工时则无法进行加工,同时良品率直线下降,以至无法量产。
另外,由于超薄基板的硬度、承载力不足,在封装前的晶圆与超薄基板bonding焊接的过程中,焊接良率过低,bonding拉力不足问题都限制了超薄基板采用传统封装工艺量产化的进程。因此,在封装工艺中,超薄基板的封装工艺迟迟未进行量产化作业生产,而此是为传统技术的主要缺点。
实用新型内容
本实用新型提供一种超薄PCB基板的封装结构,其包括超薄基板、黏着层、可分离铜箔及载体。超薄基板为已完成所有电路板所需工艺的待封装超薄电路板,此电路板具有所有封装工艺所需的顶面、相对于顶面的底表面、所需电路图形、所需绝缘防焊层油墨及用于各层电路之间导通的过孔或盲埋孔。黏着层为产业界熟知的可作为超薄基板与可分离铜箔的黏合剂,具有易于涂覆、涂覆均匀性良好、易于退洗的特性。可分离铜箔为业界已熟知的铜箔,具有易于剥离,无其他品质隐患的特性,较易于采购,品质稳定。载体为传统多层电路板压合常规半固化片经高温高压压合而形成,起到增强载体硬度、厚度、易操作的作用。
本实用新型所采用的技术方案为:一种超薄PCB基板的封装结构,其包括超薄封装基板、晶圆芯片以及绝缘材料层,其中,该晶圆芯片设置在该超薄封装基板顶面上,该绝缘材料层盖设在该超薄封装基板上方,该晶圆芯片嵌设在该绝缘材料层中。
该超薄封装基板底面上设置有黏着层,该黏着层下方连接有可分离铜箔层,该可分离铜箔层包括铜箔层、剥离层以及载体铜层,其中,该载体铜层设置在该剥离层底面上,该铜箔层设置在该剥离层顶面上,半固化片连接在该可分离铜箔层的该载体铜层底面上。
本实用新型的有益效果为:通过本实用新型的临时键合结构,键合后超薄封装基板能够达到常规封装基板封装前所需厚度、硬度、平整性的要求。在焊接时,由于超薄基板硬度、厚度、平整性的增加,焊接稳定性、焊接良率均得以改善和提高,避免了虚焊和焊接不良现象的发生,提高了良品率。同时,得益于超薄基板硬度、厚度、平整性的增加,再采用常规的工艺参数和条件进行封装时,能够顺利完成封装,解决了超薄基板封装难以实现的难题。
由此可见,原本超薄基板无法进行常规的封装的难题,通过本实用新型技术增加一个临时的键合方法之后,顺利的实现了超薄基板的封装操作。此操作相对较容易实现,控制难点较少,所需工艺材料均有成熟物料,易于取得,适合量产工艺的推广。
附图说明
图1为现有技术的工作示意图。
图2为本实用新型设置可分离铜箔层、半固化片的示意图。
图3为本实用新型剥离可分离铜箔层、半固化片的示意图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市和美精艺科技有限公司,未经深圳市和美精艺科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821892387.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电子封装外壳热沉焊底结构
- 下一篇:具有六面式保护层的晶片封装结构