[实用新型]快速检测工件同轴度与圆度的检规有效

专利信息
申请号: 201821870678.5 申请日: 2018-11-13
公开(公告)号: CN208902026U 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 蒋振华;常瑞祥;盛伍杰;王明 申请(专利权)人: 山东鼎成新材料有限公司
主分类号: G01B5/252 分类号: G01B5/252;G01B5/20
代理公司: 潍坊博强专利代理有限公司 37244 代理人: 宫克礼
地址: 261000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 检测腔 上圆柱 下圆柱 待测工件 小柱 本实用新型 快速检测 转动限位 同轴度 检规 通规 圆度 止规 检测 成套使用 待测部件 方向设置 间隙配合 上下一体 竖直 同轴 连通 贯穿
【说明书】:

实用新型公开了一种快速检测工件同轴度与圆度的检规,包括检测本体,检测本体包括上下一体设置的上部检层和下部检层,上部检层内竖直方向设置有上圆柱检测腔,下部检层内设置有与上圆柱检测腔同轴的下圆柱检测腔,上圆柱检测腔的内径大于下圆柱检测腔的内径,在上部检层一侧贯穿上部检层设置有一个转动限位缺口,转动限位缺口与上圆柱检测腔连通;检测本体包括成套使用的通规和止规,通规的下圆柱检测腔的内径为待测工件小柱部分的外径上限值,止规的下圆柱检测腔的内径为待测工件小柱部分的外径下限值,上圆柱检测腔与合格待测工件小柱上方的待测部件间隙配合;本实用新型做工简单,操作方便,成本低,效率高。

技术领域

本实用新型涉及工件检测技术领域,尤其涉及一种快速检测工件同轴度与圆度的检规。

背景技术

传统的检测工件同轴度与圆度的方法是用2.5次元投影或者用三坐标打点检测,2.5次圆投影仪以及三坐标检测设备具有如下缺点:首先,检测难度非常大,是高投入型的设备,设备价格昂贵而且设备要配备专业的人员来检测,设备投入以及员工工资投入巨大;其次2.5次圆投影仪以及三坐标检测设备因为在检测中会耗费大量的时间,如果产品量产的话不能够实现量产化,都检测时间周期长、检测效率低。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种成本低、操作简单、检测效率高的快速检测工件同轴度与圆度的检规。

为解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:快速检测工件同轴度与圆度的检规,包括检测本体,所述检测本体包括上下一体设置的上部检层和下部检层,所述上部检层内竖直方向设置有上圆柱检测腔,所述下部检层内设置有与所述上圆柱检测腔同轴的下圆柱检测腔,所述上圆柱检测腔的内径大于所述下圆柱检测腔的内径,在所述上部检层一侧贯穿所述上部检层设置有一个转动限位缺口,所述转动限位缺口与所述上圆柱检测腔连通;

所述检测本体包括成套使用的通规和止规,所述通规的所述下圆柱检测腔的内径为待测工件小柱部分的外径上限值,所述止规的所述下圆柱检测腔的内径为待测工件小柱部分的外径下限值,所述上圆柱检测腔与合格待测工件小柱上方的待测部件间隙配合。

作为优选的技术方案,所述检测本体横截面为多边形或圆形。

作为优选的技术方案,所述检测本体横截面为正方形。

由于采用了上述技术方案,快速检测工件同轴度与圆度的检规,包括检测本体,所述检测本体包括上下一体设置的上部检层和下部检层,所述上部检层内竖直方向设置有上圆柱检测腔,所述下部检层内设置有与所述上圆柱检测腔同轴的下圆柱检测腔,所述上圆柱检测腔的内径大于所述下圆柱检测腔的内径,在所述上部检层一侧贯穿所述上部检层设置有一个转动限位缺口,所述转动限位缺口与所述上圆柱检测腔连通;所述检测本体包括成套使用的通规和止规,所述通规的所述下圆柱检测腔的内径为待测工件小柱部分的外径上限值,所述止规的所述下圆柱检测腔的内径为待测工件小柱部分的外径下限值,所述上圆柱检测腔与合格待测工件小柱上方的待测部件间隙配合;

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