[实用新型]测量玻璃基板厚度的装置

说明书

本公开涉及一种测量玻璃基板厚度的装置，所述装置包括：传动组件，用于驱动所述玻璃基板沿第一方向移动；支撑架，架设于所述玻璃基板上方或下方；厚度检测器，设于所述支撑架且能够在所述支撑架上沿着与所述第一方向不同的第二方向滑动；所述厚度检测器用于检测所述玻璃基板的厚度。玻璃基板可以在传动组件的驱动下沿第一方向持续移动，厚度检测器沿着与所述第一方向不同的第二方向滑动，在第一方向上玻璃基板与厚度检测器有相对运动，不同的玻璃基板相继通过厚度检测器的检测区域进而完成对不同玻璃基板的厚度检测工作，无需从流水线上取下玻璃基板单独进行检测，且每一块玻璃基板均通过厚度检测器的检测区域，避免了玻璃基板的漏检。

技术领域

本公开涉及尺寸测量技术领域，具体地，涉及一种测量玻璃基板厚度的装置。

背景技术

玻璃基板是液晶显示器件的一个基本部件，其对厚度精度的要求较高，故在玻璃基板的生产中，需要对玻璃基板的厚度进行检测。

相关技术中，测量玻璃基板厚度的方式为离线抽检的形式，这种方式需要将玻璃基板从流水线上取出进行检测，如此会延误玻璃基板的后续加工程序，进而降低加工效率。此外，抽检的方式不能对每一块玻璃基板都进行检测，因此可能存在漏检的情况，即没有被抽检的产品中可能存在厚度异常的玻璃基板，玻璃基板的良品率可能因此下降，并且，由于部分加工工序中需要使用精密设备距离玻璃基板表面几十微米的高度处作业，如果对厚度异常的玻璃基板进行作业，精密设备可能会碰撞或剐蹭厚度异常的玻璃基板的表面，进而对精密设备造成损伤。

实用新型内容

本公开的目的是提供一种测量玻璃基板厚度的装置，用于解决相关技术中，通过离线抽检的方式检测玻璃基板厚度造成的延误玻璃基板加工效率以及损坏精密设备的问题。

为了实现上述目的，本公开提供一种测量玻璃基板厚度的装置，所述装置包括：

传动组件，用于驱动所述玻璃基板沿第一方向移动；

支撑架，架设于所述玻璃基板上方或下方；

厚度检测器，设于所述支撑架且能够在所述支撑架上沿着与所述第一方向不同的第二方向滑动；所述厚度检测器用于检测所述玻璃基板的厚度。

可选地，所述支撑架包括：

并排设置的两个基座；

横梁，架设于两个所述基座上方，所述厚度检测器滑设于所述横梁。

可选地，所述厚度检测器为激光传感器，所述激光传感器包括激光发射端及激光接收端；所述激光发射端用于向所述玻璃基板表面发射测试激光，所述激光接收端用于接收所述测试激光经所述玻璃基板上、下表面分别反射的两个光束。

可选地，所述激光发射端发射的所述测试激光与所述玻璃基板的表面之间的夹角为30°～60°。

可选地，所述夹角为45°。

可选地，所述装置还包括与所述厚度检测器通信连接的处理器，所述处理器用于接收所述厚度检测器的检测数据并根据所述检测数据计算所述玻璃基板的厚度。

可选地，所述传动组件包括：

支撑组件，用于支撑所述玻璃基板；

动力组件，用于驱动由所述支撑组件支撑的所述玻璃基板移动。

可选地，所述支撑组件包括气浮条。

可选地，所述动力组件包括：

驱动轮，用于与由所述支撑组件支撑的所述玻璃基板接触以在所述驱动轮转动时驱动所述玻璃基板移动；

第一磁力轮，同轴连接于所述驱动轮，所述第一磁力轮用于在自身转动时带动所述驱动轮转动；