[实用新型]一种半导体自动上料检测装置有效
申请号: | 201821845981.X | 申请日: | 2018-11-09 |
公开(公告)号: | CN209080734U | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 李冬梅;王进华;李郁 | 申请(专利权)人: | 广州华微电子有限公司 |
主分类号: | B65G15/22 | 分类号: | B65G15/22;B65G23/04;B07C5/34;B07C5/38 |
代理公司: | 广州一锐专利代理有限公司 44369 | 代理人: | 李新梅;杨昕昕 |
地址: | 510000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 输送装置 工作台 检测输送装置 进料输送装置 出料输送带 电路检测 检测装置 自动上料 储料箱 紧连接 上表面 半导体 本实用新型 分道装置 自动检测 上端 收集箱 次品 | ||
1.一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,包括工作台(1),所述工作台(1)包括储料箱(2)、输送装置(3)、第一出料输送带(14)和第二出料输送带(15);所述输送装置(3)位于工作台(1)的上表面;所述输送装置(3)包括进料输送装置(5)、检测输送装置(6)和总分道输送装置(7);所述进料输送装置(5)位于工作台(1)的上端的左侧,所述进料输送装置(5)的末端紧连接着检测输送装置(6),所述检测输送装置(6)通过第一分道装置(25)紧连接着总分道输送装置(7),所述总分道输送装置(7)分别连接着次品收集箱(24)与第一出料输送带(14)和第二出料输送带(15);所述储料箱(2)位于进料输送装置(5)的上方,并且固定在工作台(1)的上表面;所述工作台(1)设有电路检测接头(18),所述电路检测接头(18)位于检测输送装置(6)的上方。
2.根据权利要求1所述的一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,所述进料输送装置(5)包括两个第一滚轮(10)和进料输送带(13),所述第一滚轮(10)位于工作台(1)的左侧的左右对称位置,所述第一滚轮(10)通过第一固定杆(8)固定在工作台(1)的上表面,并且所述进料输送带(13)将第一滚轮(10)围成一体;所述工作台(1)的底部的左侧设有第一电机(20),所述第一电机(20)通过电线连接着第一滚轮(10)。
3.根据权利要求1所述的一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,所述检测输送装置(6)包括第二滚轮(11)和检测输送带(17),所述检测输送带(17)将第二滚轮(11)围成一体,并且检测输送带(17)紧接着进料输送装置(5)的末端;所述工作台(1)的底部的右侧设有第二电机(22),所述第二电机(22)通过电线连接着第二滚轮(11)。
4.根据权利要求3所述的一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,所述工作台(1)设有夹紧气缸(19),所述夹紧气缸(19)位于检测输送装置(6)的侧端;所述夹紧气缸(19)的一端固定工作台(1)的上表面,另一端夹紧着电路检测接头(18)。
5.根据权利要求1所述的一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,所述总分道输送装置(7)包括正品通道(26)和次品通道(27),所述次品通道(27)的末端连接着次品收集箱(24),所述正品通道(26)的末端连接着第二分道装置(28)。
6.根据权利要求4或5所述的一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,所述工作台(1)的底部设有控制面板(21),所述电路检测接头(18)通过电线连接着控制面板(21),所述控制面板(21)通过电线连接着第二电机(22)、第一分道装置(25)和第二分道装置(28)。
7.根据权利要求5所述的一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,所述工作台(1)的底部的右端设有第三电机(23),所述第三电机(23)通过电线连接着正品通道(26)和次品通道(27)。
8.根据权利要求5所述的一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,所述第二分道装置(28)设有第一出料输送带(14)和第二出料输送带(15),所述第一出料输送带(14)和第二出料输送带(15)分别连接着第一转盘(12)和第二转盘(16),所述第一转盘(12)和第二转盘(16)通过第二连接杆(9)固定在工作台(1)的右侧壁上。
9.根据权利要求1所述的一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,所述工作台(1)设有机架(4),所述机架(4)位于工作台(1)的底部。
10.根据权利要求8所述的一种半导体自动上料检测装置,其特征在于,所述第一出料输送带(14)和第二出料输送带(15)的上表面的左右两端都设有护边(31)。
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