[实用新型]光学检测设备

说明书

本实用新型提供一种光学检测设备，适于检测待测物。光学检测设备包括平台、取像元件、至少二侧光源、至少二反射元件以及检测单元。平台具有安装开口，其中平台用以承载待测物，且待测物对应于安装开口设置。取像元件与前述二侧光源分别设置于平台的上方与下方，其中取像元件对位于安装开口，且图像获取待侧物。前述二反射元件设置于安装开口。前述二反射元件系分别对应于前述二侧光源，且各反射元件位于取像元件与对应的侧光源之间。各侧光源与对应的反射元件可提供待侧物一侧向光线，藉以取像元件获取待侧物的图像。检测单元接收待侧物的图像，藉以检测待侧物。

技术领域

本实用新型涉及一种检测设备，尤其涉及一种光学检测设备。

背景技术

在面板(panel)的制作过程中，因制程上的缺陷或失误，可能导致面板点亮时产生亮点或碎亮点。因此，在面板制作完成后，皆会采用光学检测设备对面板进行检测，判断面板是否存在亮点或碎亮点，若有，则进一步取得亮点或碎亮点的所在位置，以进行补修的程序。然而，在光学检测过程中，取得的图像可能包含有面板中的亮点、面板中的碎亮点以及附着于面板上的异物等图像，一有不慎，便可能将附着于面板上的异物误判为亮点或碎亮点，从而在检测过程中产生误宰(overkill)的情事。

一般来说，光学检测设备配设有侧光源，用以投射侧向光线至面板，以取得附着于面板上的异物的图像。然而，受限于侧向光线投射至面板的角度限制，难以缩减侧光源与面板之间的距离，致使投射至面板的光线的亮度不足，从而影响到检测准确度。

实用新型内容

本实用新型提供一种光学检测设备，有助于提高检测准确度。

本实用新型的光学检测设备，适于检测待测物。光学检测设备包括平台、取像元件、至少二侧光源、至少二反射元件以及检测单元。平台具有安装开口，其中平台用以承载待测物，且待测物对应于安装开口设置。取像元件与前述二侧光源分别设置于平台的上方与下方，其中取像元件对位于安装开口，且图像获取待侧物。前述二反射元件设置于安装开口。前述二反射元件系分别对应于前述二侧光源，且各反射元件位于取像元件与对应的侧光源之间。各侧光源与对应的反射元件可提供待侧物一侧向光线，藉以取像元件获取待侧物的图像。检测单元接收待侧物的图像，藉以检测待侧物。

本实用新型的光学检测设备，还包括：至少二载架，连接平台背向取像元件的一侧，且分别配置用以承载二侧光源，其中二载架分别对应于二反射元件设置，且各载架具有朝向对应的反射元件的出光开口，各侧光源投射出的侧向光线经由对应的出光开口射向对应的反射元件。

本实用新型的光学检测设备，还包括：至少二限位件，设置于安装开口的周围，且彼此相对，二限位件配置用以卡制待测物。

本实用新型的光学检测设备，各限位件包括承载部，朝向安装开口延伸，且配置用以承载待测物。

本实用新型的光学检测设备，二限位件分别对位于二侧光源，且二限位件分别设置于二反射元件背向二侧光源的一侧。

本实用新型的光学检测设备，还包括：至少一定位件，设置于其中一限位件的对侧，且配置用以推抵待测物抵靠其中一限位件。

本实用新型的光学检测设备，还包括：背光源，与取像元件分别设置于平台的相对两侧，其中背光源对位于安装开口，背光源配置用以投射背光线至待测物，并由取像元件取得待侧物的另一图像，检测单元电性耦接取像元件、背光源以及各侧光源。

本实用新型的光学检测设备，各侧向光线为平行光，平行于待侧物的表面。

本实用新型的光学检测设备，各侧向光线与待侧物的表面之间的夹角落在130度至180度之间。

基于上述，本实用新型的光学检测设备通过反射元件的设置，能够缩减侧光源与待测物之间的距离，使投射至待测物的侧向光线的亮度提升且均匀，从而有助于提高检测准确度。