[实用新型]一种斜面或弧面上孔位检具有效

专利信息
申请号: 201821813224.4 申请日: 2018-11-05
公开(公告)号: CN209013943U 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 朱怡 申请(专利权)人: 苏州希恩碧电子有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B21/10;G01B21/22
代理公司: 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 代理人: 周高
地址: 215431 江苏省苏州市太仓*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 斜面孔 定位块 长方形通孔 测量定位 前端面 下模板 圆弧面 通孔 测量定位机构 本实用新型 顶面中心 孔位检具 相通 等距布置 快速检测 锐角布置 生产品质 助力弹簧 螺丝孔 平面的 限位柱 底面 孔位 位柱 向后
【说明书】:

本实用新型提供一种斜面或弧面上孔位检具,下模板顶面中心向前设有圆弧面A,向后依次设有平面、圆弧面B;下模板的前端面设有数个等距布置的凹槽,凹槽均与下模板底面成锐角布置,且凹槽与圆弧面A相通;凹槽内设有斜面孔位测量定位机构,斜面孔位测量定位机构包括定位块,定位块的前端面设有通孔A,定位块的顶面中心设有长方形通孔,长方形通孔与通孔A相通,长方形通孔内设有限位柱;通孔A内设有斜面孔位测量定位PIN,斜面孔位测量定位PIN与定位块的前端面之间设有助力弹簧,限位柱与斜面孔位测量定位PIN连接。本实用新型结构合理,对处于斜面或弧面上的螺丝孔能快速检测孔位、孔直径以及孔与平面的夹角;提高了生产品质。

技术领域

本实用新型属于笔记本安装检测技术领域,特别涉及一种斜面或弧面上孔位检具,适用于NB行业中D间螺丝孔位处于斜面上或弧面上与大平面有一定角度的产品。

背景技术

现有技术的孔位治具的结构主要是由下模板、AL件定位PIN、底模下垫块、斜面孔位测量定位PIN构成;现有检具测量方式主要是分两步,两套检具分别测量,一套测量平面上的孔位,另一套测量处于弧面上孔位。由于NB行业消费者对外观设计高要求,目前Dcover 设计很多都是有弧面结构,且螺丝孔均有设计处在弧面上与大平面有一定的夹角,存在以下技术缺陷:两套孔位检具仅能测量各自检具的检测孔位,两套孔位治具的此相对位置以及弧面孔的角度无法快速测量,在生产过程中无法100%进行测量所有螺丝孔的相对尺寸,造成孔位有偏移,无法检验的漏失,造成客户端整机无法锁附螺丝、锁附螺丝偏位的现象。

如何设计一种斜面或弧面上孔位检具,如何对处于斜面或弧面上的螺丝孔快速检测孔位、孔直径以及孔与平面的夹角,成为急需解决的问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点,本实用新型的目的在于提供一种斜面或弧面上孔位检具,用于解决现有技术中两套孔位检具仅能测量各自检具的检测孔位,两套孔位治具的此相对位置以及弧面孔的角度无法快速测量,在生产过程中无法100%进行测量所有螺丝孔的相对尺寸,造成孔位有偏移,无法检验的漏失,造成客户端整机无法锁附螺丝、锁附螺丝偏位的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供一种斜面或弧面上孔位检具,包括下模板,下模板底面的左右两端设置有对称布置的底模下垫块,其特征在于:所述的下模板顶面中心设置有异型面,异型面的中心向前设置有圆弧面A,圆弧面A的前端面高度高于下模板顶面中心的高度;异型面的中心向后依次设置有平面、圆弧面B,圆弧面B的后端面高度高于平面顶面中心的高度;

异型面的顶面设置有五个平面孔位测量PIN,其中两组平面孔位测量PIN为左右对称布置,其中圆弧面A的顶面后部设置有左右对称布置的平面孔位测量PIN,圆弧面B顶面中部向后依次设置有位于中心的平面孔位测量PIN、左右对称布置的平面孔位测量PIN、左右对称布置的AL件定位PIN;AL件定位PIN和下模板连接用于AL件在测量孔位时的基准;

下模板的前端面设置有数个等距布置的凹槽,凹槽均与下模板底面成锐角布置,且凹槽与圆弧面A相通;凹槽内设置有斜面孔位测量定位机构,斜面孔位测量定位机构包括定位块,定位块为长方体结构,长方体结构的后端面设置有圆弧面C;长方体结构的前端面设置有通孔 A,长方体结构的顶面中心设置有长方形通孔,长方形通孔与通孔A相通,长方形通孔内设置有能前后滑动的限位柱;通孔A内设置有斜面孔位测量定位PIN,斜面孔位测量定位PIN 为两段阶梯轴,两段阶梯轴的大端在前方,两段阶梯轴的大端与定位块的前端面之间设置有助力弹簧,限位柱与斜面孔位测量定位PIN连接。

于本实用新型的一实施例中,所述的圆弧面A与斜面孔位测量定位PIN的圆弧面C在同一个圆弧面上。

于本实用新型的一实施例中,两个所述的AL件定位PIN之间的间距小于左右对称布置的平面孔位测量PIN之间的间距。

于本实用新型的一实施例中,两组所述的平面孔位测量PIN的左侧或右侧中的任意一侧的两个平面孔位测量PIN均在同一个垂直面上。

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