[实用新型]一种微波测试接头

说明书

本实用新型公开了一种微波测试接头，包括外导管、置于外导管内的内导管、置于内导管的沉孔中的探头、置于沉孔内且连接在探头一端的限位板、连接在限位板与沉孔底部的游丝，所述外导管、内导管之间设置有探头伸缩锁止结构。本方案在现有技术的基础上做了改进，即设置探头伸缩锁止结构对探头伸缩进行控制，探头不用时，将探头锁止在沉孔中，对探头进行保护，避免探头受损。通过设置探头伸缩锁止结构对探头伸缩进行控制，探头不用时，将探头锁止在沉孔中，对探头进行保护，避免探头受损。

技术领域

本实用新型微波通信设备领域，具体涉及一种微波测试接头。

背景技术

在微波通信领域中，出厂的微波通信设备需要进行各种性能的测试，在测试微波设备时，采用测试接头。现有的测试接头采用申请号为201120455570.1的结构，在游丝的作用下，探针外露且具有一定的伸缩性，便于与SMD线路板接触，可靠方便。但是，由于游丝的作用，探针一直处于外露状态，其极易受损。

实用新型内容

本实用新型为了解决上述技术问题提供一种微波测试接头。

本实用新型通过下述技术方案实现：

一种微波测试接头，包括外导管、置于外导管内的内导管、置于内导管的沉孔中的探头、置于沉孔内且连接在探头一端的限位板、连接在限位板与沉孔底部的游丝，所述外导管、内导管之间设置有探头伸缩锁止结构。本方案在现有技术的基础上做了改进，即设置探头伸缩锁止结构对探头伸缩进行控制，探头不用时，将探头锁止在沉孔中，对探头进行保护，避免探头受损。

作为优选，所述外导管、内导管设置有与沉孔连通的调节孔，所述调节孔包括调节段和设置在调节段两端的过渡段，所述过渡段的直接小于调节段的直径，所述探头伸缩锁止结构包括置于调节段内的限位片、连接在限位片内侧的锁止杆、连接在限位片外侧的操作杆，所述锁止杆上套接有弹簧，所述弹簧置于调节段内，所述锁止杆的上设置有第一钩部，所述探头上设置有锁止槽，所述锁止槽靠近探头端部的一端设置有与第一钩部相匹配的第二钩部。

作为优选，所述内导管与探头之导套。

本实用新型与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：

1、本实用新型设置探头伸缩锁止结构对探头伸缩进行控制，探头不用时，将探头锁止在沉孔中，对探头进行保护，避免探头受损。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本实用新型实施例的限定。

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为图1中A部的放大图。

图3为本实用新型在使用过程的状态图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本实用新型作进一步的详细说明，本实用新型的示意性实施方式及其说明仅用于解释本实用新型，并不作为对本实用新型的限定。

实施例1

如图1所示的一种微波测试接头，包括外导管1、置于外导管1内的内导管2、置于内导管1的沉孔中的探头3、置于沉孔内且连接在探头3一端的限位板4、连接在限位板4与沉孔底部的游丝5，所述外导管1、内导管2之间设置有探头伸缩锁止结构。

实施例2

基于上述实施例的原理，本实施例公开一具有实施例方式。