[实用新型]半导体激光器老化试验装置

权利要求书

1.一种半导体激光器老化试验装置，其特征在于，包括：气流罩、定位件、温度传感器、加热件和电路板；

所述电路板设置在所述气流罩的开口端，所述定位件设置在所述气流罩的内部，所述加热件设置在所述定位件的远离所述电路板的一端，所述加热件远离所述定位件的一端用于安放被测器件，所述温度传感和加热件均与所述电路板电连接；

所述温度传感器用于检测所述被测器件的温度信息，并将所述被测器件的温度信息传递给所述电路板，所述电路板根据所述被测器件的温度信息控制所述加热件的发热量，以使所述被测器件达到预设的温度。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器老化试验装置，其特征在于，所述半导体激光器老化试验装置还包括导热件；

所述导热件设置在所述加热件和所述被测器件之间，所述导热件用于将所述加热件产生的热量均匀传递到所述被测器件上。

3.根据权利要求2所述的半导体激光器老化试验装置，其特征在于，所述导热件靠近所述被测器件的一端设置有第一凹槽，所述温度传感器设置在所述第一凹槽中。

4.根据权利要求3所述的半导体激光器老化试验装置，其特征在于，所述定位件的内侧设置有第二凹槽，所述第二凹槽用于容纳连接件，所述连接件用于将所述被测器件和所述电路板连接。

5.根据权利要求4所述的半导体激光器老化试验装置，其特征在于，所述导热件和所述连接件上分别设置有多个第一插针孔和多个第二插针孔，多个所述第一插针孔和多个所述第二插针孔一一对应设置，所述被测器件上的插针穿过所述第一插针孔和所述第二插针孔与所述电路板连接。

6.根据权利要求1-5任一项所述的半导体激光器老化试验装置，其特征在于，所述气流罩的顶端设置有呈喇叭型的开口，沿所述气流罩远离所述电路板的方向，所述开口的直径逐渐减小。

7.根据权利要求6所述的半导体激光器老化试验装置，其特征在于，所述被测器件远离所述加热件的一端设置在所述开口内。

8.根据权利要求1所述的半导体激光器老化试验装置，其特征在于，所述气流罩的开口端设置有向外延伸的凸边，所述凸边上设置有安装孔，所述电路板上设置有与所述安装孔配合的通孔。

9.根据权利要求1所述的半导体激光器老化试验装置，其特征在于，所述加热件上设置有加热电阻线路和热输入电极；

所述热输入电极用于和电路板电连接，所述热输入电极还与加热电阻线路连接，以使所述加热件发热。

10.根据权利要求5所述的半导体激光器老化试验装置，其特征在于，多个所述第二插针孔均匀分布在所述连接件上。