[实用新型]外圈外径测量装置有效

专利信息
申请号: 201821747680.3 申请日: 2018-10-26
公开(公告)号: CN209131631U 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 郁祖欣 申请(专利权)人: 江苏世冠自动化设备有限公司
主分类号: G01B21/10 分类号: G01B21/10
代理公司: 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 代理人: 高之波;胡建锋
地址: 225300 江苏省泰州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测头 位移传感器 直线导轨 连接件 外径测量装置 弹性元件 等高螺钉 驱动装置 检测 读取 测量装置 基座连接 外径检测 安装块 挡块 申请 限位
【说明书】:

本申请公开了一种外圈外径测量装置。该测量装置包括:驱动装置、连接件、等高螺钉、弹性元件、位移传感器、测头、直线导轨和基座,连接件设置于驱动装置,等高螺钉连接测头和连接件,测头包括:第一测头和第二测头,第一测头通过弹性元件与第二测头连接,第一测头和第二测头安装于直线导轨,直线导轨和基座连接,第一测头设置有安装块,用于安装位移传感器,第二测头设置有挡块,用于限位,位移传感器通过检测第一测头和第二测头间的位移读取测值。本申请解决了由于外圈外径检测过程中精度不高,检测效率较低,无法满足大批量产品的检测需求的技术问题。

技术领域

实用新型涉及轴承测量技术领域,具体而言,涉及一种外圈外径测量装置。

背景技术

在轴承生产过程中,需要对轴承进行必要的检测,发现问题时及时解决,轴承的外径是重要的检测项目,由于轴承在生产过程中圆度会产生微小的波动,传统的测量工具往往只是测一个或几个外径值,不能很好的反应轴承外径的真实情况,对于某些要求高的轴承无法保证产品的质量。

现有技术不足之处在于,外圈外径检测过程中精度不高,检测效率较低,无法满足大批量产品的检测需求。

针对相关技术中外圈外径检测过程中精度不高,检测效率较低,无法满足大批量产品的检测需求的问题,目前尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是在于提供一种外圈外径测量装置,以解决由于外圈外径检测过程中精度不高,检测效率较低,无法满足大批量产品的检测需求的问题。

为了实现上述目的,根据本申请的一个方面,提供了一种外圈外径测量装置。

根据本实用新型的外圈外径测量装置,包括:驱动装置、连接件、等高螺钉、弹性元件、位移传感器、测头、直线导轨和基座,所述连接件设置于所述驱动装置,所述等高螺钉连接所述测头和所述连接件,所述测头包括:第一测头和第二测头,所述第一测头通过所述弹性元件与所述第二测头连接,所述第一测头和第二测头安装于所述直线导轨,所述直线导轨和所述基座连接,所述第一测头设置有安装块,用于安装位移传感器,所述第二测头设置有挡块,用于限位,所述位移传感器通过检测所述第一测头和所述第二测头间的位移读取测值。

在一些实施方式中:所述弹性元件为拉伸弹簧。由此,通过设置有拉伸弹簧,能够实现操作简单,易于实现的效果。

在一些实施方式中:所述连接件为L型。由此,能够实现连接和结构稳定的作用。

在一些实施方式中:所述第一测头和第二测头上还设置有测杆。由此,通过设置有测杆,能够实现稳定抓取工件的效果。

本实用新型采用外径测量的方式,通过将连接件设置于驱动装置,等高螺钉连接测头和连接件,测头包括:第一测头和第二测头,第一测头通过弹性元件与第二测头连接,第一测头和第二测头安装于直线导轨,直线导轨和基座连接,第一测头设置有安装块,用于安装位移传感器,第二测头设置有挡块,用于限位,达到了位移传感器通过检测第一测头和第二测头间的位移读取测值的目的,从而实现了外径测量的技术效果,进而解决了由于外圈外径检测过程中精度不高,检测效率较低,无法满足大批量产品的检测需求的技术问题。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解,使得本申请的其它特征、目的和优点变得更明显。本申请的示意性实施例附图及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:

图1是本实用新型一种外圈外径测量装置的立体图1;

图2是本实用新型一种外圈外径测量装置的立体图2。

具体实施方式

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