[实用新型]一种可调节测试工装有效
| 申请号: | 201821731974.7 | 申请日: | 2018-10-24 | 
| 公开(公告)号: | CN208937621U | 公开(公告)日: | 2019-06-04 | 
| 发明(设计)人: | 骆秋屹 | 申请(专利权)人: | 成都八九九科技有限公司 | 
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 | 
| 代理公司: | 成都时誉知识产权代理事务所(普通合伙) 51250 | 代理人: | 陈千 | 
| 地址: | 610000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 | 
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 螺杆 测试工装 测试架 移动支架 支撑座 垫块 底座 固定支架 可调节 挡块 通孔 微波无源器件 本实用新型 线路板 手柄 被测产品 测试接头 管理方便 节约材料 螺纹连接 相对设置 共用性 可滑动 工装 穿设 固设 印制 加工 | ||
本实用新型公开了一种可调节测试工装,涉及微波无源器件用测试工装领域,包括底座,底座上固设固定支架和支撑座,支撑座上可滑动的设有移动支架,固定支架和移动支架上分别固设有测试架,两个测试架相对设置,测试架上固设有测试接头和印制线路板;还包括连接块和螺杆,支撑座与螺杆的一端螺纹连接,螺杆的另一端固设有手柄,连接块的一端与移动支架固定连接,其另一端加工有通孔,螺杆穿设于通孔内,螺杆上固设有两个挡块,两个挡块分别设置于连接块的两侧;底座上设有垫块,垫块设置于两个测试架之间,垫块用于放置被测产品。该测试工装可进行调节,适应不同的产品,共用性强,利用率高;可减少工装数量,节约材料,降低成本,管理方便。
技术领域
本实用新型涉及微波无源器件用测试工装领域,具体为一种可调节测试工装。
背景技术
微波无源器件在进行测试时需要用到专用的测试工装。现有技术中,基于微波无源器件的外形尺寸繁多,在对其进行测试时,用到的专用工装数量也随之繁多。然而,这些工装的结构相似,仅仅因为尺寸不同,便需要制作多个,这造成大量的材料浪费和测试工装整体成本高昂。同时因其数量繁多,在实际工作中,对测试工装的管理亦极为麻烦。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种可调节测试工装,该测试工装可根据被测产品的外形尺寸进行调节,适应不同的产品,共用性强,利用率高,可减少工装的制作数量,节约材料,降低成本,同时数量少管理方便。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:
一种可调节测试工装,包括底座,所述底座上固定设置有固定支架和支撑座,所述支撑座上可滑动的设置有移动支架,所述固定支架和移动支架上分别固定设置有测试架,两个所述测试架相对设置,所述测试架上固定设置有测试接头和印制线路板;
还包括连接块和螺杆,所述支撑座上加工有内螺纹孔,所述支撑座与所述螺杆的一端螺纹连接,所述螺杆的另一端固定设置有手柄,所述连接块的一端与所述移动支架固定连接,其另一端加工有通孔,所述螺杆穿设于所述通孔内,所述螺杆上固定设置有两个挡块,两个所述挡块分别设置于所述连接块的两侧;
所述底座上设置有垫块,所述垫块设置于两个所述测试架之间,所述垫块用于放置被测产品。
进一步的,所述垫块有若干块,若干所述垫块的尺寸不同,若干所述垫块相互可替换使用。
进一步的,还包括两个螺母,所述螺母与所述螺杆通过螺纹连接,两个所述螺母分别设置于所述连接块的两侧,所述挡块设置于所述螺母与所述连接块之间,所述挡块套接在所述螺杆上。
进一步的,所述支撑座的顶面固定设置有滑槽,所述移动支架的底面固定设置有滑轨,所述滑轨设置于所述滑槽内,所述滑轨与所述滑槽之间设置有直线轴承。
本实用新型的有益效果是:该可调测试工装设置移动支架,通过螺杆可带动移动支架横移,调节两测试架的距离以调节宽度;包括多个尺寸不同的垫块,可根据被测产品的尺寸选择合适的垫块使用,调节高度。通过上述高度与宽度的调节,该测试工装可适应不同的产品,共用性强,利用率高,亦减少工装的制作数量,节约材料,降低成本,同时数量少管理方便。移动支架和支撑座之间设置滑槽滑轨导向,使横移动作更为稳定准确;滑轨与滑槽之间设置直线轴承,使横移动作省力流畅,亦减小磨损,提高了工装的使用寿命。另外,该测试工装结构简单,支座成本低。
附图说明
图1为本实用新型一种可调节测试工装的结构示意图;
图中,1-底座,2-固定支架,3-测试架,4-印制线路板,5-被测产品,6-垫块,7-测试接头,8-移动支架,9-支撑座,10-连接块,11-挡块,12-螺母,13-手柄,14-螺杆。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都八九九科技有限公司,未经成都八九九科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821731974.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:适用于半导体晶圆制造的弹簧针测试连接器
 - 下一篇:TYPE C模组检测设备
 





