[实用新型]一种半导体激光器光束质量测试装置有效
申请号: | 201821726562.4 | 申请日: | 2018-10-24 |
公开(公告)号: | CN208887783U | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 李军;席道明;陈云;马永坤;吕艳钊;魏皓 | 申请(专利权)人: | 江苏天元激光科技有限公司 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01M11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光阑 半导体激光器 高光束 质量测试装置 夹具 功率接收器 激光器 激光 探测 筛选 本实用新型 固定半导体 测试效率 测试装置 传输激光 电脑控制 分析对比 合适位置 激光功率 前后移动 通光孔径 滑轨 尾纤 调试 采集 输出 移动 客户 | ||
1.一种半导体激光器光束质量测试装置,由激光夹具(10)、光阑(20)、功率接收器(30)和滑轨(40)、电脑控制端(50)和光纤(60)组成,其特征在于:所述的激光夹具(10)用于固定半导体激光器的尾纤,光阑(20)置于激光夹具(10)后合适位置,光阑(20)上的通光孔径对传输激光进行控制;功率接收器(30)置于光阑(20)后,探测经光阑(20)输出的激光功率值;滑轨(40)用于控制光阑(20)水平位置的移动,电脑控制端(50)采集光阑(20)的前后移动,由功率接收器(30)探测到的功率值并进行分析对比,实现高光束质量激光器的筛选。
2.如权利要求1所述的一种半导体激光器光束质量测试装置,其特征在于:所述的激光夹具(10)具有与被测半导体激光器尾纤涂覆层直径相匹配的凹槽(13)。
3.如权利要求2所述的一种半导体激光器光束质量测试装置,其特征在于:所述的激光夹具凹槽(13)上设置有一层硅胶层。
4.如权利要求1所述的一种半导体激光器光束质量测试装置,其特征在于:所述的光阑(20)具有一个一定大小的通光孔径,通光孔径设定为固定孔径或可变孔径两种形式;固定孔径形式中通过改变光阑(20)位置,完成光束质量的测试;可变孔径形式中,固定光阑的位置,改变光阑(20)通光孔径的直径,完成光束质量的测试。
5.如权利要求4所述的一种半导体激光器光束质量测试装置,其特征在于:所述的通光孔径直径的选取,根据光纤的数值孔径及光阑(20)距半导体激光器尾纤端面的距离进行计算,公式为:
公式中:NA为光纤的数值孔径;n为空气中的折射率,近似为1;α为激光在尾纤输出后发散角;d为光阑距光纤出光端面的距离;D为激光传输到距离d时光斑直径,即为光阑通光孔径的直径。
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