[实用新型]光学检测设备

说明书

本实用新型提供一种光学检测设备，用于检测待测物。光学检测设备包括检测单元、复检组件以及标记组件。检测单元包括取像组件以及处理器。取像组件用以取得待测物的图像。复检组件整合在取像组件的一侧，用以复检待测物。标记组件整合在复检组件的一侧，用以对待测物进行标记。处理器电性连接取像组件与标记组件。本实用新型的光学检测设备将取像组件、复检组件以及标记组件整合为一体，故能在同一工作站位完成自动检测、人工复检以及瑕疵标记等步骤。如此一来，不仅能缩减检测工时，还能避免因搬移待测物而对待测物造成损伤。

技术领域

本实用新型涉及一种检测设备，尤其涉及一种光学检测设备。

背景技术

随着科技进步，电子零件的精密度要求日益趋高，为确保电子零件的良率提升，自动光学检测技术已广泛地应用于相关电子产业。一般而言，在自动光学检测系统取得待测物的图像并对其进行瑕疵判断后，操作人员必须将待测物搬移至另一工作站位，并依据自动光学检测系统所检测到的瑕疵区块，通过人工的方式重复判断待测物上的相应区块是否存在真实瑕疵。最后，若判断待测物上的相应区块存在真实瑕疵，则针对待测物上存在真实瑕疵的区块进行标记。

然而，待测物从自动光学检测站位搬移至人工复检站位的过程耗时，且难以减少人力负担。一有不慎，可能会对待测物造成损伤。

实用新型内容

本实用新型提供一种光学检测设备，其具有良好的整合设计，有助于缩减检测工时。

本实用新型的光学检测设备用于检测待测物。光学检测设备包括检测单元、复检组件以及标记组件。检测单元包括取像组件及处理器。取像组件用以取得待测物的图像。复检组件整合在取像组件的一侧，用以复检待测物。标记组件整合在复检组件的一侧，用以对待测物进行标记。处理器电性连接取像组件与标记组件。

基于上述，本实用新型的光学检测设备将取像组件、复检组件以及标记组件整合为一体，故能在同一工作站位完成自动检测、人工复检以及瑕疵标记等步骤。如此一来，不仅能缩减检测工时，还能避免因搬移待测物而对待测物造成损伤。

为让本实用新型的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1是本实用新型一实施例的光学检测设备的俯视示意图。

图2是图1的光学检测设备的侧视示意图。

图3是图1的光学检测设备的电路示意图。

【符号说明】

10：工作平台

20：待测物

30：光源

100：光学检测设备

101：检测单元

110：取像组件

120：复检组件

130：标记组件

131：驱动部

132：标记部

140：处理器

150：载架

160：支架

161：第一端部

162：第二端部

D1：第一安装方向

D2：第二安装方向

具体实施方式