[实用新型]OLED屏半衰期自动测量装置

说明书

本实用新型涉及一种显示屏寿命测量装置，尤其是OLED屏半衰期自动测量装置，包括机架、抽屉、硅光二极管、导通探针、治具盖板和治具底座；所述机架上设有多个插口，所述抽屉滑动插在插口中；所述治具底座固定在抽屉上，治具底座的顶部设有固定槽，固定槽内放置有OLED屏；所述导通探针安装在治具盖板或治具底座上，导通探针正对在OLED屏的电极；所述硅光二极管安在治具盖板和/或治具底座的固定槽上，硅光二极管正对着OLED屏；所述治具盖板安装在治具底座上。本实用新型提供的OLED屏半衰期自动测量装置极大的缩小了设备的占地面积，降低了测试人员的技能要求，同时测试的OLED屏数量更多，大大提高了测量效率。

技术领域

本实用新型涉及一种显示屏寿命测量装置，尤其是OLED屏半衰期自动测量装置。

背景技术

随着时代的进步与科技的发展，显示屏行业的发展越来越快，需求也越来越多，而要求又越来越严苛，在如今全面进入OLED时代的背景下，对于OLED产品的性能测试需求也是不断增加，而OLED半衰期的测量也是诸多OLED性能测量中最为基础和常见的一种测量项目。在现有技术中对，对于OLED半衰期的测量通常采用三轴机台，在一个平台上点亮一定数量的产品，经过三轴驱动仪器对各个产品分别进行测量，这样的机台测量样品数量有限，占地面积大，测量效率低等诸多缺点，无法满足现社会各企业及科研单位对产品测试的需求。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型提供一种占到面积小、测量效率高的OLED屏半衰期自动测量装置，具体技术方案为：

OLED屏半衰期自动测量装置，包括机架、抽屉、硅光二极管、导通探针、治具盖板和治具底座；所述机架上设有多个插口，所述抽屉滑动插在插口中；所述治具底座固定在抽屉上，治具底座的顶部设有固定槽，固定槽内放置有OLED屏；所述导通探针安装在治具盖板或治具底座上，导通探针正对在OLED屏的电极；所述硅光二极管安在治具盖板和/或治具底座的固定槽上，硅光二极管正对着OLED屏；所述治具盖板安装在治具底座上。

通过采用上述技术方案，机架上可以设置多个插口，即插口层状阵列设置，从而使单位面积放置的OLED屏数量更多，减小占到面积，放置较多的OLED屏也提高了检测效率。

抽屉用于放置测量治具，从而方便将测量治具放置到机架的内部，测量治具位于机架的内部可以减少占到面积，方便OLED屏的安装，减少装配时间。

固定槽用于放置OLED屏，使OLED屏放置快速，无需校对位置。

治具盖板和治具底座上均装有硅光二极管使测试人员无需区分OLED屏是顶发光还是底发光，均能准确的测量。

导通探针为电流针，用于连接OLED屏的电极，从而使OLED屏通道发光。电流针是OLED屏的连接简单，方便OLED屏的拆装。

硅光二极管能够将光信号转换成电信号，然后根据电信号的衰减来检测OLED屏的半衰期。

优选的，所述治具盖板上设有信号传输探针，信号传输探针与硅光二极管连接，治具底座上设有信号接收柱，所述信号传输探针正对着信号接收柱，信号接收柱与底座上的牛角接头连接。

通过采用上述技术方案，将治具盖板上的电信号通过信号传输探针和信号接收柱传给牛角接头，通过牛角接头传输给检测系统，从而简化了线路设置。

优选的，所述治具盖板与治具底座之间通过轴转动连接。

通过采用上述技术方案，通过轴转动连接使治具盖板和治具底座打开和闭合方便。

优选的，所述治具盖板与治具底座上均装有磁铁，且治具盖板上的磁铁与治具底座上的磁铁相对设置。

通过采用上述技术方案，磁铁能够将治具盖板和治具底座吸附到一起，实现治具盖板对OLED屏的压合，使连接装置结构简单，治具盖板开关方便。