[实用新型]一种非接触式薄膜厚度测量仪有效

专利信息
申请号: 201821653466.1 申请日: 2018-10-12
公开(公告)号: CN208833185U 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 兰家祥;王国邦;廖耿斌;林寿英;贺雪峰 申请(专利权)人: 福建农林大学
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350002 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 薄膜厚度测量 本实用新型 光照传感器 主控电路板 非接触式 电池盒 读取 非接触检测 操作误差 数据显示 外壳内部 外壳上部 按键 薄膜
【说明书】:

本实用新型涉及一种非接触式薄膜厚度测量仪,其特征在于:包括LCD液晶显示屏、主控电路板、LED光源、光照传感器、按键、外壳和电池盒;所述外壳为U型结构;所述LCD液晶显示屏和外壳设置于外壳上部外侧;所述主控电路板和电池盒设置与外壳内部;所述光照传感器和LED光源分别设置与外壳内侧两端同一垂直位置。本实用新型实现非接触检测薄膜,操作误差小,精度好,数据显示精确易读取。

技术领域

本实用新型涉及薄膜测量领域,具体涉及一种非接触式薄膜厚度测量仪。

背景技术

近年来,薄膜行业的发展随着科学技术的发展而发生着巨大的变化,薄膜产品的应用变得十分广泛,应用范围涵盖了工业、农业、电子产品行业以及宇航等领域,全球对于薄膜的需求呈现出逐步增长的趋势。目前国内已有几千条薄膜生产设备线,然而在大多数薄膜生产中都没有有效的薄膜厚度检测装置,如热敏材料的涂层厚度仍然使用传统接触式的测量方法—千分尺,这对于厚度极薄的薄膜就可能会产生较大的误差,造成测量精度偏低,从而影响器件的品质,所以对于薄膜品质要求较高的行业来说就无法应用这种测量方式。因此需要对薄膜品质进行必要的检测,厚度测量是薄膜品质检测的重要内容之一。该设计有重要的意义,在实际应用中能够测出膜层厚度,满足各行业对薄膜厚度的生产要求。

发明内容

有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种非接触式薄膜厚度测量仪,以解决传统接触式的测量方法存在测量薄膜厚度误差大的问题。

为实现上述目的本实用新型采用以下技术方案实现:

一种非接触式薄膜厚度测量仪,包括LCD液晶显示屏、主控电路板、LED光源、光照传感器、按键、外壳和电池盒;所述外壳为U型结构;所述LCD液晶显示屏和外壳设置于外壳上部外侧;所述主控电路板和电池盒设置与外壳内部;所述光照传感器和LED光源分别设置与外壳内侧两端同一垂直位置。

进一步的,所述外壳外侧还设置有手柄。

进一步的,所述LCD液晶显示屏采用LCD1602液晶显示屏。

进一步的,所述主控电路板采用STC89C51作为数据处理芯片。

进一步的,所述光照传感器采用GY-30数字光照传感器。

进一步的,所述电池盒包括2节3.7V的18650锂电池。

进一步的,所述主控电路板与按键、光照传感器、电磁盒、LCD液晶显示屏和LED光源分别连接。

本实用新型与现有技术相比具有以下有益效果:

1.本实用新型实现非接触检测薄膜,操作误差小,精度好。

2.本实用新型采用LCD液晶显示屏显示,数据显示精确易读取。

附图说明

图1是本实用新型结构图;

图2是本实用新型装置三视图;

图3是本实用新型结构框图;

图4是本实用新型一实施例电源电路图;

图5是本实用新型一实施例光源电路图;

图6是本实用新型一实施例复位电路图;

图7是本实用新型一实施例晶振电路图;

图8是本实用新型一实施例51单片机图;

图9是本实用新型一实施例LCD显示屏电路图;

图10是本实用新型一实施例按键电路图;

图11是本实用新型一实施例光照检测单元图;

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