[实用新型]一种速度和位置传感器检测系统

说明书

本实用新型公开了一种速度和位置传感器检测系统，其包括测试线圈、上位机以及与所述测试线圈相连的测试线圈驱动单元；其中，所述测试线圈，用于模拟电感变化；所述测试线圈驱动单元，用于驱动所述测试线圈通断；所述上位机，用于处理速度和位置传感器的信号。本实用新型的有益效果为：其采用上位机和电感模拟装置闭环控制的方式，克服了针对基于电感原理的传感器检测时需要建造体积较大、成本较高、且只能进行低速检测设备的缺点，且本实用新型可以便捷的模拟电感变化环境，根据自主需求控制电感变化速度与变化模式，能够模拟较高速度的电感变化，进而达到了基于电感原理的速度与位置的传感器的便捷、多模式的可靠性测试。

技术领域

本实用新型涉及传感器检测系统的技术领域，特别涉及一种速度和位置传感器检测系统。

背景技术

目前常见的磁悬浮列车在悬浮于长定子结构的轨道运行时，需使用基于电感原理的速度和位置传感器，检测列车运行速度和相对于长定子轨道的位置。为保证传感器可靠正确工作，需要有专门设备对传感器进行检测。目前针对该类传感器的检测方法是建设具有实际长定子结构的专门试验台，通过电机带动传感器运动进行检测。但此方案考虑到试验台成本、尺寸、部件参数和安全性等因素，只能进行较低运动速度(0.2m/s)下的测试，无法进行传感器较高运行速度的检测。

因此，如何提供一种能够准确克服针对基于电感原理的传感器检测时需要建造体积较大、成本较高、且只能进行低速检测设备的缺点，且能够便捷的模拟电感变化环境，根据自主需求控制电感变化速度与变化模式，能够模拟较高速度的电感变化，进而达到基于电感原理的速度与位置的传感器的便捷、多模式的可靠性测试的速度和位置传感器检测系统是本领域技术人员目前需要解决的重要技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种速度和位置传感器检测系统，该速度和位置传感器检测系统能够准确高效地对磁浮列车的速度和位置传感器功能、性能和可靠性进行检测。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种速度和位置传感器检测系统，其包括测试线圈、上位机以及与所述测试线圈相连的测试线圈驱动单元；其中，

所述测试线圈，用于模拟电感变化；

所述测试线圈驱动单元，用于驱动所述测试线圈通断；

所述上位机，用于处理速度和位置传感器的信号。

可选的，所述测试线圈驱动单元为移位寄存器。

可选的，所述测试线圈驱动单元为可控逻辑阵列。

可选的，所述可控逻辑阵列为模拟开关阵列和/或FPGA。

可选的，所述上位机还与所述测试线圈驱动单元相连接，用于设置所述测试线圈通断频率，实现传感器检测的闭环控制。

本实用新型的另一方案提供一种速度和位置传感器检测系统，其包括测试线圈、上位机、与所述上位机相连的速度和位置传感器以及，与所述测试线圈相连的测试线圈驱动单元；其中，

所述测试线圈，用于模拟电感变化；

所述测试线圈驱动单元，用于驱动所述测试线圈通断；

所述速度和位置传感器，用于检测所述测试线圈通断所引起的电感的改变；

所述上位机，用于处理所述速度和位置传感器的信号。

可选的，所述测试线圈设于所述速度和位置传感器下方。