[实用新型]集成电路测试装置

权利要求书

1.集成电路测试装置，包括固定板(1)，其特征在于，所述固定板(1)的上端对称固定连接有两个卡合机构，所述卡合机构包括两个对称设置的且与固定板(1)上端固定连接的卡板(2)，两个所述卡板(2)的上端相对一侧通过滚珠轴承转动连接有同一根转轴，所述转轴的轴壁固定连接有翻板(3)，所述翻板(3)的上端表面对称固定连接有两个向外延伸的限位板(4)，所述限位板(4)的表面开设有卡口(5)，所述卡板(2)的上端开设有凹槽(6)，所述凹槽(6)竖直一侧的侧壁垂直固定连接有伸缩杆(7)，所述伸缩杆(7)远离凹槽(6)内侧壁的一端固定连接有移动杆(8)，所述移动杆(8)的上端固定连接有与卡口(5)对应的三角卡头(9)，所述凹槽(6)的内壁与移动杆(8)的杆壁之间固定连接有套设于伸缩杆(7)外的拉力弹簧(10)，所述翻板(3)远离转轴的一端下侧通过多个缓冲机构固定连接有压板(11)。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述缓冲机构包括两根与翻板(3)下端铰接，且呈八字形分布的缓冲杆(12)，两根所述缓冲杆(12)之间连接有同一个复位弹簧(13)，所述缓冲杆(12)远离铰接处的一端转动连接有缓冲滑块(14)，所述压板(11)的上端开设有与缓冲滑块(14)相匹配的缓冲滑槽(15)。

3.根据权利要求2所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述复位弹簧(13)的两端均固定连接有锁环，两个所述缓冲杆(12)相向的一侧均铰接有与锁环相匹配的锁扣。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述三角卡头(9)的下端水平部与限位板(4)的上端表面平齐。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述移动杆(8)位于凹槽(6)内的一端固定连接有限位滑块，所述凹槽(6)的内壁开设有与限位滑块相匹配的限位滑槽。

6.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述压板(11)的上端四角处与翻板(3)的下端之间均固定连接有弹性伸缩杆，且压板(11)的下端固定设有一层缓冲橡胶垫。