[实用新型]一种用于光谱实验的样品腔有效
申请号: | 201821526250.9 | 申请日: | 2018-09-06 |
公开(公告)号: | CN212622183U | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 张向平;方晓华;赵永建 | 申请(专利权)人: | 金华职业技术学院 |
主分类号: | G01N21/03 | 分类号: | G01N21/03 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 321017 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 光谱 实验 样品 | ||
本实用新型涉及物理实验领域,一种用于光谱实验的样品腔,包括进气管、上盖、毛细管、连接管、出气管、样品管、下盖、样品、碳纤维管、加热灯、热屏蔽腔、辐射热计、温度计、导热基座、水冷台和位移装置,在进行光谱实验时需要与储气罐、光源及光谱仪一起使用,采用的样品管结构紧凑,样品准备过程简单,可靠性高,采用简单的结构通过气流来控制样品温度,通过加热灯的辐射热对样品均匀加热,结合气流能够精确控制样品温度,并采用特殊设计的辐射热计准确测量入射光的辐射功率,精度较高,整个装置的发热量小,对周围实验环境影响小。
技术领域
本实用新型涉及物理实验领域,尤其是一种可靠性高且样品准备过程简单的一种用于光谱实验的样品腔。
背景技术
光谱实验如吸收光谱、激发光谱、衍射实验等是研究物质特性的常用实验手段,通常是将不同波长的光入射到样品上,并探测反射的光。通常样品放置在特殊的样品腔中,对于不同的样品及不同的实验要求,样品腔的结构不同。现有技术缺陷一:在某些需要对样品加热的实验中,某些现有技术通过陶瓷或金属元件加热、微波共振等方法来加热样品,测温器件通常位于样品附近位置,由于热源距离样品较近,会受到热源的辐射热的影响而较难测准样品温度,而另一些现有技术中,样品位于一个加热腔内,测温器件能够与周围环境达到热平衡,能够较准确地测量样品温度,但是加热腔的尺寸较大,某些对样品周围空间尺寸要求较高的实验无法进行;现有技术缺陷二:在某些光谱实验中需要精确测量入射光的功率,而受限于样品腔的结构及温度等因素,入射光功率的测量精度不高,所述一种用于光谱实验的样品腔能够解决问题。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型装置采用简单的结构通过气流来控制样品温度,能够精确测量样品温度,并能够精确测量入射光的辐射功率,另外,整个装置的发热量小,对周围实验环境影响小。本实用新型装置为光谱实验的样品腔,在进行光谱实验时需要与储气罐、光源及光谱仪一起使用。
本实用新型所采用的技术方案是:
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