[实用新型]一种光电耦合器通用型测试座

说明书

本实用新型公开了一种光电耦合器通用型测试座，包括测试座下基座，所述测试座下基座的左侧固定连接有转动支撑轴，所述转动支撑轴转动连接有测试座上盖板，所述测试座下基座的内部设置有铜质金属一体化测试片，所述测试座下基座的底部设置有铜质金属片，所述铜质金属一体化测试片通过铜导线与铜质金属片相连接，本实用新型涉及光电耦合器测试座技术领域。该一种光电耦合器通用型测试座，达到了减少了测试座或工装夹具的采购数量与损耗，也节约了不同测试座或工装夹具的更换时间、人力成本、提高了员工的工作效率的目的，达到了利用减震弹簧与运动块的配合，形成自锁，提高测试座的稳定性，提高测试结果的准确性的目的。

技术领域

本实用新型涉及光电耦合器测试座技术领域，具体为一种光电耦合器通用型测试座。

背景技术

目前半导体分立器件的封装外形越来越多样化，光电耦合器作为以光为媒介传输电信号。它对输入、输出电信号有良好的隔离作用，所以，它在各种电路中得到广泛的应用。而根据应用市场的需求，在常见使用较多的光电耦合器DIP4L直插式封装的基础上，衍生出贴片式的SIP4L封装。对于批量生产的半导体封测厂来说，产品的抽测需要专门的测试座或工装夹具来完成，而针对不同外形的封装一般需要定制特殊对应的测试座或工装夹具来使用，除增加了测试座或工装夹具的采购数量与损耗，也增加了不同测试座或工装夹具的更换时间、人力成本，因此，通用型测试座或工装夹具的设计就显得非常有实用性。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种光电耦合器通用型测试座，解决了现有的光电耦合器需要不同测试座，测试座的采购数量大、损耗大，使用不同测试座或工装夹具浪费大量的时间、人力成本、工作效率低的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种光电耦合器通用型测试座，包括测试座下基座，所述测试座下基座的左侧固定连接有转动支撑轴，所述转动支撑轴转动连接有测试座上盖板，所述测试座下基座的内部设置有铜质金属一体化测试片，所述测试座下基座的底部设置有铜质金属片，所述铜质金属一体化测试片通过铜导线与铜质金属片相连接，所述铜质金属一体化测试片的上端为矩形铜质金属片，所述矩形铜质金属片的中部镂空并延伸至测试座下基座的底部，所述铜质金属一体化测试片的间隙设置有DIP4L光电耦合器，所述DIP4L光电耦合器的引脚与矩形铜质金属片相接触，所述测试座上盖板的右侧设置有活动卡扣，所述测试座上盖板的内部设置有限位框，所述限位框的内部设置有运动块，所述运动块的右侧固定连接有固定杆，所述固定杆与限位框滑动连接，所述固定杆位于限位框外部的一端与活动卡扣固定连接。

优选的，所述铜质金属一体化测试片的数量为四个。

优选的，所述测试座下基座的右侧设置有凹槽，所述活动卡扣的底端设置有卡爪，所述卡爪与凹槽卡接。

优选的，所述活动卡扣的右侧固定连接有拉块。

优选的，所述运动块的右侧固定连接有减震弹簧，所述减震弹簧与限位框固定连接。

优选的，所述测试座下基座的右侧设置有45°斜坡。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种光电耦合器通用型测试座。具备以下有益效果：