[实用新型]一种充电计时芯片寿命测试装置有效
申请号: | 201821486067.0 | 申请日: | 2018-09-12 |
公开(公告)号: | CN208818453U | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 徐永光 | 申请(专利权)人: | 旌芯半导体科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G01M7/02 | 分类号: | G01M7/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 顶部外壁 检测台 计时芯片 螺钉固定 寿命测试装置 本实用新型 振动弹簧 安装槽 固定台 缓冲板 驱动杆 滚轮 底座 充电 驱动电机输出轴 准确度 测试数据 底部内壁 刚性冲击 铰链连接 驱动电机 使用寿命 安装孔 固定轴 键连接 真实度 转动杆 减小 外壁 晃动 焊接 移动 | ||
1.一种充电计时芯片寿命测试装置,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)的顶部外壁开有检测台安装槽,且检测台安装槽的底部内壁通过螺钉固定有振动弹簧(2),所述振动弹簧(2)的顶部外壁通过螺钉固定有检测台(4),且检测台(4)的顶部外壁一侧通过铰链连接有转动杆(12),所述检测台(4)的顶部外壁一侧焊接有固定台(5),且固定台(5)的顶部外壁通过螺钉固定有驱动电机(19),所述驱动电机(19)输出轴通过键连接有驱动杆(7),且驱动杆(7)的一侧外壁开有固定轴安装孔,所述固定轴安装孔的内壁通过轴承连接有固定轴(18),且固定轴(18)的一侧外壁套接有滚轮(6)和连接杆(8),所述连接杆(8)的一端外壁通过铰链连接于转动杆(12)的一端外壁,且连接杆(8)的顶部外壁一侧通过螺钉固定有固定盒(9)。
2.根据权利要求1所述的一种充电计时芯片寿命测试装置,其特征在于,所述固定盒(9)的底部内壁粘接有海绵垫(21),且海绵垫(21)的底部内壁放置有计时芯片(20),固定盒(9)的顶部外壁通过纽扣连接有弹性带(22),弹性带(22)为十字结构。
3.根据权利要求2所述的一种充电计时芯片寿命测试装置,其特征在于,所述底座(1)的顶部外壁开有固定槽,且固定槽的底部内壁焊接有缓冲弹簧(16),缓冲弹簧(16)的顶部外壁焊接有缓冲板(17)。
4.根据权利要求3所述的一种充电计时芯片寿命测试装置,其特征在于,所述驱动电机(19)通过导线连接有开关,且开关通过导线连接有电源。
5.根据权利要求4所述的一种充电计时芯片寿命测试装置,其特征在于,所述检测台安装槽的两侧内壁和底部内壁均开有滚珠槽,且三个滚珠槽的内壁均套接有滚珠(3)。
6.根据权利要求5所述的一种充电计时芯片寿命测试装置,其特征在于,所述底座(1)的顶部外壁一侧通过螺钉固定有控制箱(13),且控制箱(13)的一侧内壁和一侧外壁分别通过螺钉固定有处理器(14)和显示屏(15)。
7.根据权利要求6所述的一种充电计时芯片寿命测试装置,其特征在于,所述底座(1)的顶部外壁焊接有立杆(11),且立杆(11)的一侧外壁通过螺钉固定有信号接收器(10),信号接收器(10)的信号输出端通过信号线与处理器(14)连接。
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