[实用新型]ASIC测试装置

说明书

一种ASIC测试装置，包括：测试箱，设有用于与电源连接的连接端子；定位夹具，设置于所述测试箱的外表面，用于定位装夹被测试模块；复数个探针组，环设于所述定位夹具的外周侧，所述探针组包括复数个弹簧探针，所述弹簧探针一端通过线缆与所述连接端子电性连接，另一端与所述被测试模块的连接触点保持相对；直线运动机构，用于驱动所述探针组直线运动而使所述弹簧探针顶紧于所述被测试模块的连接触点。本实用新型提供的ASIC测试装置可实现对ASIC的快速高效测试，操作过程标准化程度高，适应大批量生产的需要。

技术领域

本实用新型属于测试仪器技术领域，具体地来说，是一种ASIC测试装置。

背景技术

ASIC(Application Specific Integrated Circuits)，即专用集成电路，是为特定用户或特定电子系统制作的集成电路。ASIC一般可分为全定制设计与半定制设计，随着集成电路规模的迅速增加，ASIC应用日益频繁。其中，属于半定制设计的FPGA应用更为广泛。

ASIC多属于自研产品，测试过程取决于各生产厂家的自主要求，尚不具备通用的测试设备。目前，多数生产厂家并不对ASIC进行单独测试，而是在其所应用的电子产品装配完成后，进行整体测试。

由于ASIC未经单独测试，电路可靠性无法控制，可能存在尚未排除的线路故障。问题器件在电子产品装配后容易发生故障，造成整体测试无法通过而导致返工或频繁调试，使测试效率与生产效率低下，无法满足大批量生产的需要。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供了一种ASIC测试装置，可实现对ASIC的快速高效测试，操作过程标准化程度高，适应大批量生产的需要。

本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：

一种ASIC测试装置，包括：

测试箱，设有用于与电源连接的连接端子；

定位夹具，设置于所述测试箱的外表面，用于定位装夹被测试模块；

复数个探针组，环设于所述定位夹具的外周侧，所述探针组包括复数个弹簧探针，所述弹簧探针一端通过线缆与所述连接端子电性连接，另一端与所述被测试模块的连接触点保持相对；

直线运动机构，用于驱动所述探针组直线运动而使所述弹簧探针顶紧于所述被测试模块的连接触点。

作为上述技术方案的改进，所述测试箱包括开口箱体与设置于所述开口箱体的开口端的启闭门，所述开口箱体与所述启闭门包围而成容纳腔，所述开口箱体上设有所述连接端子，所述容纳腔用于容纳所述线缆，所述定位夹具、所述探针组与所述直线运动机构分别设置于所述开口箱体的外表面上。

作为上述技术方案的进一步改进，所述开口箱体与所述启闭门之间设有用于锁紧二者的锁扣。

作为上述技术方案的进一步改进，所述开口箱体具有与所述探针组对应设置的过线孔，所述过线孔环设于所述定位夹具的外周侧，所述线缆贯穿于所述过线孔。

作为上述技术方案的进一步改进，所述定位夹具包括安装底座与设置于所述安装底座上的定位支座，所述安装底座安装于所述测试箱的外表面，所述定位支座具有用于插拔定位所述被测试模块的定位柱。

作为上述技术方案的进一步改进，所述定位支座具有用于嵌装所述被测试模块的嵌设槽，所述定位柱突出于所述嵌设槽的外部。

作为上述技术方案的进一步改进，所述定位夹具还包括紧固机构，所述紧固机构包括紧固头与用于驱动所述紧固头运动的驱动件，所述紧固头用于将所述被测试模块压紧于所述定位夹具上。

作为上述技术方案的进一步改进，所述紧固头接近所述被测试模块的一端设有柔性缓冲件，所述柔性缓冲件用于直接作用于所述被测试模块的表面。