[实用新型]磁珠检测装置有效
| 申请号: | 201821455553.6 | 申请日: | 2018-09-06 |
| 公开(公告)号: | CN209014688U | 公开(公告)日: | 2019-06-21 |
| 发明(设计)人: | 刘海洋;邱斌团;吴壬华 | 申请(专利权)人: | 深圳欣锐科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址: | 518055 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 待测物 引脚 移动检测 固定架 磁珠 本实用新型 磁珠检测 支撑台 电磁干扰 电子零件 滑动连接 探针检测 整机测试 检测 支撑 漏装 探针 | ||
本实用新型提供一种磁珠检测装置,用于检测待测物的MOS管引脚上是否装有磁珠,包括支撑台、设于所述支撑台上的固定架以及与所述固定架滑动连接的移动检测件,所述支撑台用于支撑所述待测物,所述移动检测件包括朝向所述待测物的与每个所述MOS管引脚对应的数个探针,所述移动检测件沿着所述固定架相对所述待测物上升或下降,以通过每个所述探针检测每个所述MOS管引脚上是否套设有所述磁珠。本实用新型解决了整机测试不能完全检测出每个MOS管引脚是否漏装磁珠所导致的电子零件的电磁干扰的技术问题。
技术领域
本实用新型涉及新能源汽车领域,特别涉及一种磁珠检测装置。
背景技术
新能源汽车的车载电源和控制系统都是以高端的电子产品设备为基础,各个零部件的质量把关也都相当严格,而现在新能源汽车的发展趋势为电子零件或者电子控制单元(ECU)替代汽车机械零件。这样的电子零件容易受到电磁干扰的影响,同时数量迅速增加的ECU以及更短的零件距离都会提高电磁干扰 (EMC)的概率,导致零件失效。而目前针对EMC的改善主要集中在场效应管(MOS),通过在MOS管的引脚上增加磁珠来控制电磁干扰,然而磁珠存在漏装的风险,且当整机测试不能完全检测出磁珠漏装时,会导致电子零件的电磁干扰。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种磁珠检测装置,以解决整机测试不能完全检测出每个MOS管引脚是否漏装磁珠所导致的电子零件的电磁干扰的技术问题。
本实用新型提供一种磁珠检测装置,用于检测待测物的MOS管引脚上是否装有磁珠,包括支撑台、设于所述支撑台上的固定架以及与所述固定架滑动连接的移动检测件,所述支撑台用于支撑所述待测物,所述移动检测件包括朝向所述待测物的与每个所述MOS管引脚对应的数个探针,所述移动检测件沿着所述固定架相对所述待测物上升或下降,以通过每个所述探针检测每个所述MOS 管引脚上是否套设有所述磁珠。
其中,所述磁珠检测装置还包括快速夹,所述快速夹固定于所述固定架上,所述快速夹包括推拉杆,所述推拉杆与所述移动检测件连接以带动所述移动检测件沿着所述固定架移动。
其中,所述固定架包括第一侧板、与所述第一侧板相对设置的第二侧板以及连接所述第一侧板与所述第二侧板的连接板,所述第一侧板、所述连接板以及所述第二侧板形成开口背向所述移动检测件的收容空间,所述收容空间用于容纳固定部。
其中,所述固定部包括设于所述收容空间内的数个第一固定柱、数个第二固定柱、第一固定耳以及第二固定耳,所述第一固定耳固定于所述第一侧板的内表面,所述第二固定耳固定于所述第二侧板的内表面,数个所述第一固定柱固定连接于所述第一固定耳与所述支撑台之间,数个所述第二固定柱固定连接于所述第二固定耳与所述支撑台之间。
其中,所述移动检测件包括移动板,所述移动板包括套设每一个所述第一固定柱的数个第一通孔与套设每一个所述第二固定柱的数个第二通孔,所述移动板通过数个所述第一通孔与数个所述第二通孔与数个所述第一固定柱以及数个所述第二固定柱滑动连接,且所述移动板可沿着所述第一固定柱以及所述第二固定柱移动。
其中,所述磁珠检测装置还包括对应每一个所述第一固定柱的数个第一滑套与对应每一所述第二固定柱的数个第二滑套,一个所述第一滑套设于一个所述第一固定柱与一个所述第一通孔的内壁之间,一个所述第二滑套设于一个所述第二固定柱与一个所述第二通孔的内壁之间。
其中,所述快速夹还包括联动杆与操作杆,所述联动杆分别与所述推拉杆以及所述操作杆衔接联动,所述操作杆通过所述联动杆带动所述推拉杆运动。
其中,所述支撑台包括一凸起结构,所述凸起结构内凹设有一限位槽,所述限位槽用于容纳所述待测物。
其中,所述磁珠检测装置还包括对应每一个所述探针的数个第一提示灯,一个所述探针与一个所述第一提示灯电连接,一个所述第一提示灯用于提示一个所述MOS管引脚上是否套设所述磁珠。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳欣锐科技股份有限公司,未经深圳欣锐科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821455553.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种半导体测试台
- 下一篇:一种汽车电子生产用PCB板检测装置





