[实用新型]溜槽料位检测系统有效
| 申请号: | 201821447082.4 | 申请日: | 2018-09-05 |
| 公开(公告)号: | CN208751658U | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
| 发明(设计)人: | 王志国;孙立 | 申请(专利权)人: | 中冶北方(大连)工程技术有限公司 |
| 主分类号: | G01F23/24 | 分类号: | G01F23/24 |
| 代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 曹素云;董永辉 |
| 地址: | 116600 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 触发单元 阻旋式 溜槽 检测电路 控制箱 料位检测系统 料位检测装置 本实用新型 堆积料 总电阻 导通 料位 传动连接 从上向下 连续给料 料位检测 驱动电机 下料溜槽 影响物料 电连接 最顶端 驱动 | ||
本实用新型公开了一种溜槽料位检测系统。该系统包括:安装在溜槽内的料位检测装置,以及溜槽外的变送控制箱;所述料位检测装置包括:多个阻旋式触发单元,从上向下依次固定连接;驱动电机,与最顶端阻旋式触发单元传动连接,且与变送控制箱电连接以驱动各阻旋式触发单元旋转;检测电路;阻旋式触发单元通过堆积料的阻力将检测电路导通,且每个阻旋式触发单元所导通的检测电路中的总电阻值不同;通过变送控制箱得到总电阻值从而获得料位高度。本实用新型通过溜槽内堆积料的阻力来识别料位,不受连续给料影响,不影响物料自重,且无污染,适合空间狭小的连续下料溜槽料位检测。
技术领域
本实用新型涉及固体料位检测技术领域,具体地,涉及一种溜槽料位检测系统,尤其适用于高压辊磨溜槽的料位检测。
背景技术
随着钢铁行业的高速发展与需求,球团矿的重要性也越来越凸显,然而无论是链回环,还是带式焙烧机,或是竖炉等球团生产工艺中造球都是至关重要的一个环节,造球对物料的粒度和比表面积都有一定的要求,如果比表面积不够将严重影响造球的生产效率和质量,因此很多球团厂都在球团配料前加高压辊磨工序,通过高压辊磨工序改变原料的比表面积,使其满足造球工序的要求,提高造球的生产效率和质量。随着高压辊磨工序的出现提高了球团工艺对原料的适应性,但随之也带了问题,那就是高压辊磨机要求其给料溜槽保持一定的高度(一般3m左右),靠料柱的重力来完成对辊缝的喂料。为了保证料柱的重力能作用在辊缝上且稳定,要求其给料溜槽是竖直的,且上口小下口大,生产过程保持料柱高度稳定。
这样就给料柱高度检测带来了一定的难度,常规的固体料位检测设备(如激光、雷达、超声、重锤等)因其上部连续给料且口径小均无法使用,又因其重力要求作用在辊缝上称重料位计也无法使用,以往项目只能采用核料位计,因其污染、危险性和管理要求高等因素给业主带来了一定的困扰。
实用新型内容
针对上述问题,本实用新型的目的是提供一种溜槽料位检测系统,以解决现有技术中必须设置核源才能对溜槽料位进行检测的问题。
上述目的是通过以下技术方案实现的:
根据本实用新型的一个方面,本实用新型提供的一种溜槽料位检测系统,包括:安装在溜槽内部的料位检测装置,以及安装在溜槽外部的变送控制箱;所述料位检测装置包括:多个阻旋式触发单元,从上向下依次固定连接;驱动电机,与最顶端的阻旋式触发单元传动连接,且与所述变送控制箱电连接;以及检测电路,所述检测电路通过阻旋式触发单元受到堆积料的阻力而导通,且每个阻旋式触发单元所导通的检测电路中的总电阻值不同;所述变送控制箱包括:电源开关,用于启动驱动电机,使得所述驱动电机驱动各阻旋式触发单元旋转;以及电阻检测器,用于检测导通的检测电路中的总电阻值,从而获得料位高度。
优选地,所述阻旋式触发单元由外向内依次包括:触料组件、驱动触发组件、旋转圈以及固定组件,所述触料组件包括:触料筒,用于感受堆积料的阻力且沿触料筒向外伸出的触料杆,所述触料筒的内壁上设置有驱动窝;所述驱动触发组件,用于驱动阻旋式触发单元旋转以及用于导通检测电路,包括:球窝连杆、位于球窝连杆一端的驱动滚珠、连接在球窝连杆另一端的带接线柱的第一接触片、以及套装在球窝连杆外部且两端分别与旋转圈和固定组件连接的护套;其中,驱动滚珠、球窝连杆、以及第一接触片在所述护套中可来回移动;触料杆未受到阻力,所述驱动滚珠位于驱动窝中且带动触料组件转动,检测电路处于开路状态;触料杆受到阻力,触料组件停止旋转,驱动滚珠离开驱动窝滚至触料筒内壁上,同时推动球窝连杆和第一接触片,第一接触片使得位于固定组件中的检测电路处于导通状态。
优选地,所述固定组件包括:填充有绝缘材料的填充筒,设置在填充筒一侧与驱动触发组件匹配的预留孔,以及连接在检测电路中的定值电阻、导线、与定值电阻通过导线连接的第二接触片、和连接第一接触片的导线,其中,所述第二接触片位于预留孔中,当第一接触片进入所述预留孔与第二接触片压紧时,检测电路导通。
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