[实用新型]一种电子元器件自动高温与充电老化系统

说明书

本实用新型公开了一种电子元器件自动高温与充电老化系统，包括机架动力装置、自动进出料装置、老化排夹、进料平台以及出料平台；在动力机架的上方安装进出料装置，自动进出料装置包括支撑架组件、进料组件以及出料组件，进料组件和出料组件通过支撑架组件安装在链条上方，进料组件将进料平台的待老化测试电子元器件移送到老化排夹，老化排夹随着链条将待测试的电子元器件移送到动力机架上安装的隧道式烘箱，电源控制器通过接触导电组件与老化排夹连接；出料组件将已老化测试的电子元器件移送到出料平台。针对径向引线形的电解电容和类似电子元器件，通过进料排夹机构和出料排夹机构分别实现自动上下料，并在高温和充电老化测试工位完成老化测试。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件生产加工技术领域，特别涉及一种电子元器件自动高温与充电老化系统。

背景技术

电子元器件，如电容、电阻等在电子产品中得到了广泛使用，电容、电阻是一个消耗性的元器件，在电路中是不可缺少的元件。通常电容或者电阻要是受过压，过热以及电化学腐蚀都会导致电容、电阻的老化，具体表现为充放电的时间会很短，甚至会被击穿，造成电解质的泄露而固化造成直接的短路。具体地，不管是过压还是过热都会让电容里面电解粒子的流动超乎异常的活跃，从而形成逃逸极板的冲压，尤其是过热，这种现象更为明显，直接表现为电容烧掉，发黑，在某种程度上过压也会直接导致过热现象。电子元器件由于过热或者过压造成失效的问题，往往集中发生在电子元器件早期使用阶段，在这个阶段，故障率很高，而过了这段时间以后，电子元器件会进入一个很长时间的稳定期，可能有几年，甚至几十年，然后，电子元器件进入了老化器，故障率随着时间不断增加。

电子元器件的高温和充电老化测试，就是为了排除在早期使用阶段会发生失效的电子元器件，从而使得电子元器件在出厂之后处于使用的稳定期，从而显著提升电子元器件的稳定性，现有的电子元器件生成制造完成后，一般通过将电子元器件安装在老化排架上，将老化排架设置在老化房或老化箱内，通过老化排架给电子元器件充电，在老化房内模拟高温环境，从而完成对电子元器件的高温和充电老化测试，整个过程中需要进行人工操作，将电子元器件安装到老化排架上。由于电子元器件体积小，数量多，人工在老化排架进行上下料，劳动成本高，效率低。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种电子元器件自动高温与充电老化系统，能够自动化地实现电容等电子元器件的高温老化和充电老化测试，无需人工上下料，生产效率高。

为了解决上述技术问题，具体地，本实用新型的技术方案如下：

一种电子元器件自动高温与充电老化系统，包括机架动力装置、自动进出料装置、老化排夹、进料平台以及出料平台；所述机架动力装置的动力机架一端安装有主电机，所述主电机通过一分度盘驱动链轮，在所述动力机架的两端分别设置有多个所述链轮，在所述链轮上设置有链条，在所述链条表面均匀阵列设置有所述老化排夹，在所述动力机架的上方安装所述进出料装置，所述自动进出料装置包括支撑架组件、进料组件以及出料组件，所述进料组件和所述出料组件通过所述支撑架组件安装在所述链条上方，所述进料组件将所述进料平台的待老化测试电子元器件移送到所述老化排夹，所述老化排夹随着所述链条将待老化测试的所述电子元器件移送到所述动力机架上安装的隧道式烘箱，在所述隧道式烘箱一侧设置有电源控制器，所述电源控制器通过接触导电组件与所述老化排夹连接；所述出料组件将已老化测试的所述电子元器件移送到出料平台。

进一步的，所述动力机架的一端安装所述主电机，所述主电机通过同步带驱动一主轴，所述主轴安装在所述动力机架侧部，所述主轴通过分度凸轮驱动所述分度盘，所述分度盘通过分度盘轴连接驱动所述链轮。

进一步的，所述动力机架上设置有烘箱加热装置，所述烘箱加热装置包括至少一所述隧道式烘箱，通过所述链条带动所述老化排夹穿设在所述隧道式烘箱内，所述隧道式烘箱内设置有恒温加热组件和若干循环风机。