[实用新型]测试设备、测试载板及测试系统

说明书

本实用新型的实施例提出一种测试设备、测试载板及测试系统。该测试设备包括：第一输入输出端口，配置为输出第一测试信号并接收第三反馈信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号，所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第二反馈信号生成；判断逻辑电路，配置为根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。通过本实用新型提供的技术方案，可以提高测试设备同时测量的待测芯片的数量。

技术领域

本实用新型属于测试技术领域，具体而言，涉及一种测试设备、测试载板及测试系统。

背景技术

现有技术中，各种芯片例如DRAM(Dynamic Random Access Memory，即动态随机存取存储器)对性能的要求极高，为了保证在应用过程不出现差错，需要对出厂的芯片性能进行测试。

由于现有的测试设备(Tester)的测试端口数量有限，为了能够加快芯片的测试速度，提高芯片的产能，就需要增加测试设备的数量，但这样相应的会增加生产成本。

需要说明的是，在上述背景技术部分实用新型的信息仅用于加强对本实用新型的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

实用新型内容

根据本实用新型的一个方面，提供一种测试设备，包括：第一输入输出端口，配置为输出第一测试信号并接收第三反馈信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号，所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第一反馈信号生成；判断逻辑电路，配置为根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。

在本实用新型的一种示例性实施例中，所述第一反馈信号由所述第一待测芯片响应于所述第二测试信号生成，所述第二反馈信号由所述第二待测芯片响应于所述第三测试信号生成。

在本实用新型的一种示例性实施例中，所述判断逻辑电路还配置为：若所述第三反馈信号小于第一阈值或者大于第二阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；若所述第三反馈信号大于等于所述第一阈值且小于等于所述第二阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。

在本实用新型的一种示例性实施例中，所述判断逻辑电路还配置为：根据所述第三反馈信号获得第四反馈信号；若所述第四反馈信号小于第三阈值或者大于第四阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；若所述第四反馈信号大于等于所述第三阈值且小于等于所述第四阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。

根据本实用新型的一个方面，提供一种测试载板，包括：第一通道，配置为接收第一测试信号和发送第三反馈信号；第二通道，配置为发送第二测试信号并接收第一反馈信号；第三通道，配置为发送第三测试信号并接收第二反馈信号；第一信号处理电路，所述第一通道、所述第二通道和所述第三通道均电连接至所述第一信号处理电路，所述第一信号处理电路配置为根据所述第一测试信号生成所述第二测试信号和所述第三测试信号，并根据所述第一反馈信号和所述第二反馈信号生成所述第三反馈信号。

在本实用新型的一种示例性实施例中，所述第二测试信号和所述第三测试信号的频率和相位均相同。

在本实用新型的一种示例性实施例中，所述第二测试信号和所述第三测试信号的频率、幅度和相位均相同。

在本实用新型的一种示例性实施例中，所述第一信号处理电路还配置为：分别复用所述第一测试信号生成所述第二测试信号和所述第三测试信号。

在本实用新型的一种示例性实施例中，所述第一信号处理电路还配置为：合并所述第一反馈信号和所述第二反馈信号获得所述第三反馈信号。

在本实用新型的一种示例性实施例中，所述第一信号处理电路还配置为：对所述第一反馈信号和所述第二反馈信号求平均获得所述第三反馈信号。