[实用新型]用于测定硅胶磨耗率的装置

说明书

本申请公开了一种用于测定硅胶磨耗率的装置，属于块状硅胶试验装置，用于硅胶磨耗率的检测，其包括对称设置的两个机架，机架上安装有轴承座，轴承座与主驱动轴连接，主驱动轴上安装有转盘，相邻的转盘之间通过轴承结构安装有副驱动轴，所述副驱动轴上设置有两个限位块，限位块之间的副驱动轴上加工有纹路区，副驱动轴为四根，绕转盘的圆周均匀分布，在四根副驱动轴构成的内部空间中安装有转筒，转筒的外表面与纹路区接触传动；所述的副驱动轴的末端安装有驱动轮，在转盘的下方设置有弧形驱动轨道，弧形驱动轨道通过支架安装于机架上，弧形驱动轨道的内侧与驱动轮接触传动。其提供了一种新的用于检测磨耗率的试验装置，以提高磨耗率的检测效率。

技术领域

本实用新型属于块状硅胶试验装置，具体地说，尤其涉及一种用于测定硅胶磨耗率的装置。

背景技术

块状硅胶或者球状硅胶在生产完成后，需要对其自身的产品质量进行检测，其中最重要的检测参数之一便是块状硅胶或者球状硅胶的磨耗率。磨耗率的检测一般是通过称取一定量的试样置于球磨筒内，按照规定条件转动，使得试样与钢球及筒壁摩擦，然后筛分并称取重量。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种用于测定硅胶磨耗率的装置，其提供了一种新的用于检测磨耗率的试验装置，以提高磨耗率的检测效率。

为达到上述目的，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

本申请中所述的用于测定硅胶磨耗率的装置，包括对称设置的两个机架，机架上安装有轴承座，轴承座与主驱动轴连接，主驱动轴上安装有转盘，相邻的转盘之间通过轴承结构安装有副驱动轴，所述副驱动轴上设置有两个限位块，限位块之间的副驱动轴上加工有纹路区，所述的副驱动轴为四根，绕转盘的圆周均匀分布，在四根副驱动轴构成的内部空间中安装有转筒，转筒的外表面与纹路区接触传动；所述的副驱动轴的末端安装有驱动轮，在转盘的下方设置有弧形驱动轨道，弧形驱动轨道通过支架安装于机架上，弧形驱动轨道的内侧与驱动轮接触传动。

进一步地讲，本申请中所述的弧形驱动轨道的内侧安装有耐磨层。

进一步地讲，本申请中所述的机架上安装有液压油缸，液压油缸的底部固定在机架上，液压油缸的推杆与轴承座的底部连接。

进一步地讲，本申请中所述的转筒的侧面开有投料口，投料口处盖有盖板。

进一步地讲，本申请中所述的转筒的两端外表面设置有驱动轨道，驱动轨道与纹路区连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本申请通过双重驱动的形式，使得转筒内的钢珠与块状硅胶或球状硅胶多方向接触，稳定装有钢球的转筒转动姿态，提高试验检测的准确率。

附图说明

图1是本申请的结构示意图。

图2是本申请中弧形驱动轨道的结构示意图。

图3是本申请中纹路区的结构示意图。

图4是本申请中转筒的结构示意图。

图中：1、机架；2、液压油缸；3、轴承座；4、主驱动轴；5、转盘；6、驱动轮；7、副驱动轴；8、限位块；9、转筒；10、盖板；11、纹路区；12、弧形驱动轨道；13、支架；14、耐磨层；15、驱动轨道。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本申请所述的技术方案作进一步地描述说明。