[实用新型]用于测试的USB转接装置

说明书

本实用新型公开一种用于测试的USB转接装置，包括PCB、弹片固定件、多个弹片端子及金属插接头，弹片端子安装在弹片固定件上，PCB上对应弹片端子的后端相应地设有多个焊盘，PCB上还设有与多个焊盘分别连接的多个测试点，PCB与弹片固定件的后段连接，且多个弹片端子的后端分别与PCB上对应的焊盘电连接；金属插接头与弹片固定件的前段连接，且多个弹片端子的前端位于金属插接头与弹片固定件的前段之间，金属插接头用于与待测试的USB母头插接，金属插接头于靠近其侧边的位置开设有贯穿其上下表面的纵长槽，纵长槽由金属插接头的前端沿金属插接头的插拔方向向后延伸。本实用新型提高USB转接装置的使用寿命，降低使用成本，同时，不插伤被测产品USB母头和产品本体。

技术领域

本实用新型涉及USB测试技术领域，尤其是涉及一种用于测试的USB转接装置。

背景技术

目前，用于USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口测试的USB转接装置中，通常采用标准的USB公头来用于与待测试的USB母头进行插接，而标准的USB公头的外壳101通常是采用钢片冲压成形(如图1所示)，具有较强的刚性，公头上有两个扣钩，拨插力大，不适合用于测试USB接口产品；在测试过程中经过多次插拔容易磨损，此种情况下就需要更换整个USB转接装置，使用寿命低且更换成本高，并且在自动化测试时更换和停机时间频繁，导致单位时间的产能低下。另一方面，USB公头的外壳的刚性强，容易插偏而插伤产品，以及容易插伤待测试的USB母头及被测产品本体。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种用于测试的USB转接装置，旨在提高USB转接装置的使用寿命，降低使用成本。

为实现上述目的，本实用新型提供一种用于测试的USB转接装置，所述USB转接装置包括PCB、弹片固定件、多个弹片端子及金属插接头，所述多个弹片端子安装在所述弹片固定件上，所述PCB上对应所述多个弹片端子的后端相应地设有多个焊盘，所述PCB上还设有与所述多个焊盘分别连接的多个测试点，所述PCB与所述弹片固定件的后段连接，且所述多个弹片端子的后端分别与所述PCB上对应的焊盘电连接，所述金属插接头与所述弹片固定件的前段连接，且所述多个弹片端子的前端位于所述金属插接头与所述所述弹片固定件的前段之间，所述金属插接头用于与待测试的USB母头插接，所述金属插接头于靠近其侧边的位置开设有贯穿其上下表面的纵长槽，所述纵长槽由所述金属插接头的前端沿所述金属插接头的插拔方向向后延伸。

优选地，所述纵长槽的数量为两个，所述两个纵长槽分别靠近所述金属插接头的相对的两侧边设置。

优选地，所述纵长槽的长度占所述金属插接头的整个插接长度的3/2以上，所述纵长槽的宽度为0.15mm至0.25mm。

优选地，所述弹片固定件上对应所述多个弹片端子相应地设有多条安装槽，所述多条安装槽呈并排设置，所述多个弹片端子分别对应嵌设在所述多条安装槽中。

优选地，所述金属插接头于靠近其前端的上表面、下表面及两侧面均形成有倒角，所述弹片固定件于靠近其前端的外表面形成有倒角。

优选地，所述多个弹片端子的前端形成有倒角。

优选地，还包括盖板，所述盖板和PCB分别设于所述弹片固定件的相对的两面，并将所述弹片固定件的后段夹设在所述盖板和PCB之间。

优选地，所述盖板覆盖在所述多个弹片端子的后端上，所述弹片固定件的后段对应所述多个弹片端子的后端分别设有多个通孔，所述多个弹片端子的后端分别穿过所述多个通孔后与所述PCB上对应的焊盘电连接。

优选地，所述金属插接头的一面形成有贯穿其前后端的凹槽，所述弹片固定件的前段设于所述凹槽内，所述金属插接头的后端于所述凹槽的两侧分别形成有两固定凸耳，所述金属插接头通过所述两固定凸耳与所述弹片固定件固定连接，所述纵长槽位于所述凹槽的外侧。