[实用新型]一种芯片自动连接测试设备

权利要求书

1.一种芯片自动连接测试设备，包括底座(1)、设备架(2)、印刷电路板(5)、传送台(14)、机械臂(9)、夹手(12)和压力传感器(11)，其特征在于，所述设备架(2)固定安装在底座(1)上，底座(1)顶部设置有前后朝向的下滑轨(18)，下滑轨(18)滑动连接有测试滑台(4)，测试滑台(4)由其左侧设置的伺服电机a(3)驱动，测试滑台(4)的顶部设置有若干安装孔，测试滑台(4)的顶部设置有印刷电路板(5)，印刷电路板(5)的底部固定连接有若干安装脚(15)，安装脚(15)与测试滑台(4)上设置的安装孔匹配；印刷电路板(5)中部开有通口(501)，通口中设置有顶板(17)，顶板(17)底部与液压缸(16)的活塞杆固定连接，液压缸(16)安装在测试滑台(4)内部；所述通口(501)前后左右四侧的印刷电路板(5)上表面固定连接有四个竖立着的弹性板条(13)，通口(501)的上方设置有机械臂(9)，机械臂(9)的下端安装有夹手(12)，夹手(12)上方的机械臂(9)外围固定连接有位置补偿方板(10)，位置补偿方板(10)的长和宽分别与左右和前后的弹性板条(13)距离相适配，位置补偿方板(10)的四侧面固定安装有压力传感器(11)，机械臂(9)的上端固定连接有上滑台(7)，上滑台(7)与左右朝向的上滑轨(6)滑动连接，上滑轨(6)安装在设备架(2)上，上滑台(7)由其右侧设置的伺服电机b驱动；所述底座(1)的顶部右侧设置有芯片传送台(14)，芯片传送台(14)上设置有放置芯片的凹槽。

2.根据权利要求1所述的一种芯片自动连接测试设备，其特征在于，所述底座(1)中设置有PLC控制器和若干不同测试项目的测试器，且PLC控制器和测试器电性连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片自动连接测试设备，其特征在于，所述印刷电路板(5)中部的通口(501)前后两侧对称设置有若干均匀分布的引脚插孔(502)，印刷电路板(5)的表面前后侧设置有测试电路(504)，测试电路(504)与引脚插孔(502)电性连接，测试电路(504)上电性连接有若干测试接头(503)，测试接头(503)通过导线与设备中各个测试器电性连接。

4.根据权利要求1所述的一种芯片自动连接测试设备，其特征在于，所述夹手(12)由机械臂(9)驱动，夹手(12)内侧固定连接有下压板(121)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片自动连接测试设备，其特征在于，所述压力传感器(11)为金属电阻应变片式压力传感器。

6.根据权利要求1所述的一种芯片自动连接测试设备，其特征在于，所述四个弹性板条(13)的上端均向外侧微微倾斜。

7.根据权利要求1所述的一种芯片自动连接测试设备，其特征在于，所述压力传感器(11)、机械臂(9)、伺服电机a(3)和伺服电机b(8)均与设备的PLC控制器电性连接；所述液压缸(16)连接有电磁控制阀，且电磁控制阀与PLC控制器电性连接。