[实用新型]电场探头

说明书

一种电场探头，所述电场探头包括：感应探头、同轴线和连接头，所述感应探头包括：两个线状金属导体和包裹所述金属导体的绝缘材料，所述同轴线包括：芯线及其包裹所述芯线的绝缘材料、屏蔽层和绝缘外壳，所述连接头包括：探针和外壳，其中：所述两个线状金属导体之间呈90度夹角；所述芯线，耦接在所述金属导体与所述连接头的探针之间；所述屏蔽层，第一端口开路，第二端口与所述连接头的外壳连接。应用上述电场探头，成本较低、性能较好。

技术领域

本实用新型涉及电磁场技术领域，尤其涉及一种电场探头。

背景技术

随着无线电子技术的发展，无线电子产品的市场占有率越来越高。而无线电子产品容易存在辐射干扰等问题，必须要通过电磁干扰(Electro-Magnetic Interference，EMI)认证才能进行销售。

现有的EMI认证机构主要通过各类标准天线进行辐射泄漏的测试，在微波暗室中进行远场测量。标准的远场测量，可以准确、定量地测试被测产品是否符合相应的EMI认证规范。但是，一方面，远场测试需要在特定的微波暗室环境进行，而建造微波暗室需要的建造成本和维护成本都非常高，一般公司没有这样的条件；另一方面，远场测试只能得知产品是否通过认证，无法确认辐射干扰源来自于产品的具体位置。而近场测量则可以解决以上两个问题：1、近场测量不需要在微波暗室进行，在普通非屏蔽的实验室环境就可以测量，故成本较低。2、近场测量可以定位干扰源的具体位置，方便工程师解决辐射干扰问题。

对于近场测试，性能良好的电场探头，有助于提高通过认证预测的效率，是EMI近场测试的重要组成部分。在现有的产品中，用于EMI近场测试的电场探头要么实现过于复杂、成本较高，要么效率低、测试性能差。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题是对于EMI近场测试，如何提供一种成本较低、性能较好的电场探头。

为解决上述技术问题，本实用新型实施例提供一种电场探头，包括：感应探头、同轴线和连接头，所述感应探头包括：两个线状金属导体和包裹所述金属导体的绝缘材料，所述同轴线包括：芯线及其包裹所述芯线的绝缘材料、屏蔽层和绝缘外壳，所述连接头包括：探针和外壳，其中：所述两个线状金属导体之间呈90度夹角；所述芯线，耦接在所述金属导体与所述连接头的探针之间；所述屏蔽层，第一端口开路，第二端口与所述连接头的外壳连接。

可选地，所述金属导体为以下任意一种形状：线状、螺旋状、球状。

可选地，所述同轴线为：柔性同轴线或者半钢同轴线。

与现有技术相比，本实用新型实施例的技术方案具有以下有益效果：

本实用新型实施例提供的电场探头，一方面，结构简单，成本较低；另一方面，屏蔽层第一端口开路，第二端口与连接头的外壳连接，可以屏蔽外部干扰信号，提高测试结果的准确性。此外，由于金属导体和同轴线外表面均包裹有绝缘材料，避免了短路风险，可以进一步增强测试结果的可靠性。故上述电场探头成本较低、性能较好、使用安全。同时，通过呈90度夹角的两个线状金属导体，可同时接收互相垂直的两个方向的电场感应信号，提高检测效率。

进一步，采用柔性同轴线，弯折性好，便于感应探头伸入待测产品内部的不同位置，具有方便灵活的优点。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的一种电场探头的结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的一种电场探头的连接关系的示意图。

具体实施方式

对于近场测试，性能良好的电场探头，有助于提高通过认证测试的效率，是EMI近场测试的重要组成部分。在现有的产品中，用于EMI近场测试的电场探头要么实现过于复杂、成本较高，要么效率低、测试性能差。