[实用新型]一种功放AGC输出功率的量产测试电路有效
申请号: | 201821301777.1 | 申请日: | 2018-08-13 |
公开(公告)号: | CN208537688U | 公开(公告)日: | 2019-02-22 |
发明(设计)人: | 张海军;陆自清;管少钧 | 申请(专利权)人: | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 200233 上海市徐汇*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试电阻 第一开关 输出功率 功放 量产 测试 本实用新型 测试电路 控制信号 放大器 单点测试 闭合 反馈端 输入端 产能 电阻 短接 断开 | ||
本实用新型公开了一种功放AGC输出功率的量产测试电路,在第一放大器AMP1的输入端串入第一测试电阻RDFT1和第一开关S1,在反馈端串入电阻第二测试电阻RDFT2和第一开关S1,其中,第一开关S1由EN_MASSTEST控制信号控制,在功放正常工作时,闭合第一开关S1,短接第一测试电阻RDFT1和第二测试电阻RDFT2;在量产测试测试功放AGC的输出功率时,EN_MASSTEST控制信号变低,断开第一开关S1,接入第一测试电阻RDFT1和第二测试电阻RDFT2。通过本实用新型可以只采用单点测试而准确的测试得到AGC的输出功率值,大大节省量产测试时间、提高UPH以及增加产能。
技术领域
本实用新型涉及半导体集成电路技术领域,更具体的说,是涉及一种功放AGC输出功率的量产测试电路。
背景技术
芯片量产测试是一个非常重大的问题,直接贯穿在整个芯片的设计与量产的过程中,在芯片封装完成之后,需要使用专用的自动测试设备(ATE)测试制造出来的芯片功能和性能是否满足设计规格要求。因此,芯片量产测试会包含直流参数测试,功能测试,混合信号参数测试等多方面的内容,不同类型的芯片对测试会有不同的要求。随着芯片技术的进步,一块芯片上集成的功能越来越复杂,芯片的测试项目也越来越多,测试时间越来越长,也就意味着芯片的测试费用增加,芯片成本增加。
为了减少芯片的测试时间,提高UPH,增加产能,节约测试成本,需要在芯片内部设计不影响芯片正常工作的测试模式。但随着便携式设备的轻薄化发展,扬声器对功率的变化范围的要求也越来越高,要求功放输出功率中心值的波动范围限制在±10%。若在功放输出功率超出限制范围,会导致扬声器损坏,属于可靠性的质量事故,因此,在设计时都会考虑加工工艺的corner波动以及相关参数的波动范围,将AGC功率中心值的波动范围限制在±10%以内。
因此,如何在量产测试时准确测试出功放AGC功率值,将符合功放AGC功率量产规范的芯片测试挑选出来,且大大节省量产测试时间,提高UPH,增加产能,是本领域技术人员亟待解决的问题。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型提供了一种功放AGC输出功率的量产测试电路,
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种功放AGC输出功率的量产测试电路,包括:前置放大模块、PWM调制模块和增益调整模块,其中:
所述前置放大模块包括:第一放大器(Amp1)、第一反馈电阻(RF1)、第一电容(C1)、第一电阻(R1)、第一测试电阻(RDFT1)、第二测试电阻(RDFT2)以及第一开关(S1),所述第一放大器(Amp1)的反相输入端(-)和正向输入端(+)分别通过所述第一测试电阻(RDFT1)、所述第一电阻(R1)和所述第一电容(C1)接收电压输入信号;所述第一放大器(Amp1)的第一反馈端和第二反馈端分别通过所述第一反馈电阻(RF1)和所述第二测试电阻(RDFT2)与所述第一放大器(Amp1)的反相输入端(-)和正向输入端(+)相连;所述第一开关(S1)分别与所述第一测试电阻(RDFT1)和所述第二测试电阻(RDFT2)相连;所述第一开关(S1)由EN_MASSTEST控制信号控制,所述第一放大器(Amp1)的第一反馈端和第二反馈端分别作为所述前置放大模块的第一输出端和第二输出端;在量产测试测试所述功放AGC的输出功率时,所述EN_MASSTEST控制信号变低,断开所述第一开关(S1),接入所述第一测试电阻(RDFT1)和所述第二测试电阻(RDFT2);
所述PWM调制模块用于将模拟信号转换为PWM信号并进行功率管的驱动,将所述功放AGC的输出功率送到负载;
所述增益调整模块用于检测所述前置放大模块的输出电压,将所述前置放大模块的输出电压与基准电压进行比较,根据比较结果产生相应的控制码控制所述第一反馈电阻(RF1),所述比较结果确定所述第一放大器(Amp1)的输出电压,通过所述PWM调制模块进行调制,限制所述功放AGC的输出功率。
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