[实用新型]用于全反射X光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置

权利要求书

1.一种用于全反射X光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置，其特征在于：包括压环部件、样品盘和样品架；所述样品盘表面高于所述样品架；所述压环部件与所述样品架配合以使待测量滤膜绷紧在所述样品盘表面。

2.如权利要求1所述的用于全反射X光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置，其特征在于：所述压环部件为钢制压环，所述样品架上设置有能够吸引所述钢制压环,以使其将待测量滤膜压在所述样品架上的磁铁块。

3.如权利要求2所述的用于全反射X光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置，其特征在于：所述磁铁块为多个，均匀设置于所述样品架上。

4.如权利要求3所述的用于全反射X光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置，其特征在于：所述样品架上设置有凹孔；所述磁铁块固定于所述凹孔内。

5.如权利要求4所述的用于全反射X光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置，其特征在于：所述磁铁块采用环氧树脂粘接固定在相应位置。

6.如权利要求1所述的用于全反射X光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置，其特征在于：所述压环部件的材料具有均匀的磁性；所述样品架上至少部分为能够与所述磁性压环部件相配合的铁磁性材质。

7.如权利要求1-6任一所述的用于全反射X光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置，其特征在于：所述样品盘为石英盘，所述石英盘的上表面与所述样品架的标高差为0.5-3mm。